Nemáte povoleny cookies, které jsou nutné pro přehrání tohoto obsahu, který je hostován třetí stranou. Zobrazením externího obsahu přijímáte
smluvní podmínky provozovatele služby YouTube.
Scanning electron microscope: 50eV (BDT) - 30keV; 2pA - 200nA; SE / BSE, in-beam SE / BSE, STEM and Ultim Extreme and Ultim Max EDS detectors; 5-axis stage;