Přeskočit do hlavního obsahu
FZU
Menu
Kontakty
Facebook
Twitter
Instagram
Youtube
Menu uživatelského účtu
Přihlásit se
English
Hlavní navigace
Výzkum
Výzkumné sekce a oddělení
Organizační schéma
Výzkumná témata
Významné výsledky
Publikace
Projekty
Společná pracoviště
Partnerské instituce
Aktuality z výzkumu
Lidé
Služby
Podpora vědců
Pro firmy
Oblasti expertízy
Patenty a licence
Vybavení a technologie
Možnosti spolupráce
Reference
Aktuality
Události
Popularizace
Akce pro veřejnost
Materiály pro školy
Online přednášky
Časopisy a weby
Virtuální prohlídky
Popularizační články
Kariéra
Volná místa
Pro studující
Proč FZU?
Rozvoj kariéry
Welcome office
Kontaktujte nás
O FZU
Kontakt
Organizační struktura
Vedení FZU
Rada FZU
Dozorčí rada FZU
Mezinárodní poradní sbor
Činnost FZU
Historie FZU
Úřední deska
Pro média
English
Menu uživatelského účtu
Přihlásit se
Drobečková navigace
Home
Charakterizace a testování
Charakterizace a testování
Miniaturní deformační zařízení MITTER
Obrázek dlaždice
Image
Omicron VT-STM
Obrázek dlaždice
Image
LINSEIS DIL L78/RITA QDT
Obrázek dlaždice
Image
Keyence VHX 7000, VHX-7100, VHX 7020
Obrázek dlaždice
Image
Laminovací tepelný lis
Obrázek dlaždice
Image
FT-NMT04 IN-SITU SEM Nanoindentor
Obrázek dlaždice
Image
Discovery DSC 25
Obrázek dlaždice
Image
Časově rozlišená katodoluminiscence s možností měření při nízkých teplotách
Obrázek dlaždice
Image
Měření scintilačních dosvitů s časovým rozlišením v oboru ps
Obrázek dlaždice
Image
Stránkování
Aktuální stránka
1
Page
2
Page
3
Page
4
Page
5
Page
6
Page
7
Page
8
Page
9
…
Poslední strana
17
Další stránka
Další
Aby vám nic neuteklo
Přihlaste se k odběru nejzajímavějších novinek z fyzikálního světa.
You must have JavaScript enabled to use this form.
E-mail
This is required.
Odebírat
Informace o zpracování osobních údajů
© 1998 – 2023 Copyright © Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.