1. T. Mocek, J. Polan, P. Homer, K. Jakubczak, B. Rus, I.J. Kim, C.M. Kim, G.H. Lee, C.H. Nam, V. Hájková, J. Chalupský, L. Juha
    Surface modification of organic polymer by dual action of extreme ultraviolet/visible-near infrared ultrashort pulses
    Journal of Applied Physics 105 (2009) 026105(1)-026105(3).
  2. J. Chalupský, L. Juha, V. Hájková, J. Cihelka, L. Vyšín, J. Gautier, J. Hajdu, S.P. Hau-Riege, M. Jurek, J. Krzywinski, R.A. London, E. Papalazarou, J.B. Pelka, G. Rey, S. Sebban, R. Sobierajski, N. Stojanovic, K. Tiedtke, S. Toleikis, T. Tschentscher, C. Valentin, H. Wabnitz, P. Zeitoun
    Non-thermal desorption/ablation of molecular solids induced by ultra-short soft x-ray pulses
    Optics Express 17 (2009) 208-217.
  3. L. Juha, V. Hájková, J. Chalupský, V. Vorlíček, A. Ritucci, A. Reale, P. Zuppella, M. Stormer
    Radiation damage to amorphous carbon thin films irradiated by multiple 46.9 nm laser shots below the single-shot damage threshold
    Journal of Applied Physics 105 (2009) 093117(1)-093117(6).
  4. T. Mocek, B. Rus, M. Kozlová, J. Polan, P. Homer, K. Jakubczak, M. Stupka, D. Snopek, J. Nejdl, M.H. Edwards, D.S. Whittaker, G.J. Tallents, P. Mistry, G.J. Pert, N. Booth, Z. Zhai, M. Fajardo, P. Zeitoun, J. Chalupský, V. Hájková, L. Juha
    Plasma-based X-ray laser at 21 nm for multidisciplinary applications
    European Physical Journal D 54 (2009) 439-444.
  5. J. Chalupský, V. Hájková, V. Altapova, T. Burian, A. J. Gleeson, L. Juha, M. Jurek, H. Sinn, M. Störmer, R. Sobierajski, K. Tiedtke, S. Toleikis, Th. Tschentscher, L. Vyšín, H. Wabnitz, J. Gaudin
    Damage of amorphous carbon induced by soft x-ray femtosecond pulses above and below the critical angle
    Applied Physics Letters 95 (2009) 031111(1)-031111(3).
  6. B. Nagler, U. Zastrau, R.R. Fäustlin, S.M. Vinko, T. Whitcher, A.J. Nelson, R. Sobierajski, J. Krzywinski, J. Chalupský, E. Abreu, S. Bajt, T. Bornath, T. Burian, H. Chapman, J. Cihelka, T. Döppner, S. Düsterer, T. Dzelzainis, M. Fajardo, E. Förster, C. Fortmann, E. Galtier, S.H. Glenzer, S. Göde, G. Gregori, V. Hájková, P. Heimann, L. Juha, M. Jurek, F.Y. Khattak, A.R. Khorsand, D. Klinger, M. Kozlová, T. Laarmann, H.J. Lee, R.W. Lee, K.H. Meiwes-Broer, P. Mercere, W.J. Murphy, A. Przystawik, R. Redmer, H. Reinholz, D. Riley, G. Röpke, F. Rosmej, K. Saksl, R. Schott, R. Thiele, J. Tiggesbäumker, S. Toleikis, T. Tschentscher, I. Uschmann, H.J. Vollmer, J.S.Wark
    Turning solid aluminium transparent by intense soft X-ray photoionization
    Nature Physics 5 (2009) 693-696.
  7. S.P. Hau-Riege, R.A. London, R.M. Bionta, D. Ryutov, R. Soufli, S. Bajt, M.A. McKernan, S.L. Baker, J. Krzywinski, R. Sobierajski, R. Nietubyc, D. Klinger, J.B. Pelka, M. Jurek, L. Juha, J. Chalupský, J. Cihelka, V. Hájková, A. Velyhan, J. Krása, K. Tiedtke, S. Toleikis, H. Wabnitz, M. Bergh, C. Caleman, N. Timneanu
    Wavelength dependence of the damage threshold of inorganic materials under extreme-ultraviolet free-electron-laser irradiation
    Applied Physics Letters 95 (2009) 111104(1)-111104(3).
  8. A.J. Nelson, S. Toleikis, H. Chapman, S. Bajt, J. Krzywinski, J. Chalupský, L. Juha, J. Cihelka, V. Hájková, L. Vyšín, T. Burian, M. Kozlová, R.R. Fäustlin, B. Nagler, S.M. Vinko, T. Whitcher, T. Dzelzainis, O. Renner, K. Saksl, A. R. Khorsand, P. A. Heimann, R. Sobierajski, D. Klinger, M. Jurek, J. Pelka, B. Iwan, J. Andreasson, N. Timneanu, M. Fajardo, J.S. Wark, D. Riley, T. Tschentscher, J. Hajdu, R. W. Lee
    Soft x-ray free electron laser microfocus for exploring matter under extreme conditions
    Optics Express 17 (2009) 18271-18278.
  9. J.B. Pelka, R. Sobierajski, D. Klinger, W. Paszkowicz, J. Krzywinski, M. Jurek, D. Zymierska, A. Wawro, A. Petroutchik, L. Juha, V. Hájková, J. Cihelka, J. Chalupský, T. Burian, L. Vyšín, S. Toleikis, K. Sokolowski-Tinten, N. Stojanovic, U. Zastrau, R. London, S. Hau-Riege, C. Riekel, R. Davies, M. Burghammer, E. Dynowska, W. Szuszkiewicz, W. Caliebe, R. Nietubyc
    Damage in solids irradiated by a single shot of XUV free-electron laser: Irreversible changes investigated using X-ray microdiffraction, atomic force microscopy and Nomarski optical microscopy
    Radiation Physics and Chemistry 78 (2009) S46-S52.
  10. L. Juha, V. Hájková, S. Koptyaev, A. Velyhan, J. Kuba, J. Cihelka, J. Chalupský
    První uživatelské experimenty s rentgenovým laserem na volných elektronech v HASYLAB/DESY.
    Československý časopis pro fyziku 56 (2006) 356-364.
  11. N. Stojanovic, D. von der Linde, K. Tinten, U. Zastrau, F. Perner, E. Förster, R. Sobierajski, R. Nietubyc, M. Jurek, D. Klinger, J. Pelka, J. Krzywinski, L. Juha, J. Cihelka, A. Velyhan, S. Koptyaev, V. Hájková, J. Chalupský, J. Kuba, T. Tschentscher, S. Toleikis, S. Dusterer, H. Redlin
    Ablation of solids using a femtosecond extreme ultraviolet free electron.
    Applied Physics Letters 89 (2006) 241909(1)-241909(3).