I. A. Makhotkin, R. Sobierajski, J. Chalupský, K. Tiedtke, G. de Vries, M. Störmer, F. Scholze, F. Siewert, R. W. E. van de Kruijs, I. Milov, E. Louis, I. Jacyna, M. Jurek, D. Klinger, L. Nittler, Y. Syryanyy, L. Juha, V. Hájková, V. Vozda, T. Burian, K. Saksl, B. Faatz, B. Keitel, E. Plönjes, S. Schreiber, S. Toleikis, R. Loch, M. Hermann, S. Strobel, H.-K. Nienhuys, G. Gwalt, T. Mey, H. Enkisch
Journal of Synchrotron Radiation 25 (2018) 77-84.
Q. Y. van den Berg, E. V. Fernandez-Tello, T. Burian, J. Chalupský, H.-K Chung, O. Ciricosta, G. L. Dakovski, V. Hájková, P. Hollebon, L. Juha, J. Krzywinski, R.W. Lee, M. P. Minitti, T. R. Preston, A. G. de la Varga, V. Vozda, U. Zastrau, J. S. Wark, P. Velarde, S. M. Vinko
Physical Review Letters 120 (2018) 055002(1)-055002(6).
Radiation Research 189 (2018) 466-476.
V. Vozda, T. Burian, J. Chalupský, V. Dědič, V. Hájkova, P. Hlídek, L. Juha, M. Kozlová, M. Krůs, J. Kunc, M. Rejhon, L. Vyšín, J.J. Rocca, J. Franc
Journal of Alloys and Compounds 763 (2018) 662-669.
I. Milov, I. A. Makhotkin, R. Sobierajski, N. Medvedev, V. Lipp, J. Chalupský, J. M. Sturm, K. Tiedtke, G. de Vries, M. Stoermer, F. Siewert, R. van de Kruijs, E. Louis, I. Jacyna, M. Jurek, L. Juha, V. Hájková, V. Vozda, T. Burian, K. Saksl, B. Faatz, B. Keitel, E. Ploenjes, S. Schreiber, S. Toleikis, R. Loch, M. Hermann, S. Strobel, H.-K. Nienhuys, G. Gwalt, T. Mey, H. Enkisch, F. Bijkerk
Optics Express 26, No.15 (2018) 19665-19685.
I.A. Makhotkin, I. Milov, J. Chalupský, K. Tiedtke, H. Enkisch, G. de Vries, F. Scholze, F. Siewert, J.M. Sturm, K.V. Nikolaev, R.W.E. van de Kruijs, M.A. Smithers, H.A.G.M. van Wolferen, E.G. Keim, E. Louis, I. Jacyna, M. Jurek, D. Klinger, J.B. Pelka, L. Juha, V. Hájková, V. Vozda, T. Burian, K. Saksl, B. Faatz, B. Keitel, E. Plonjes, S. Schreiber, S. Toleikis, R. Loch, M. Hermann, S. Strobel, R. Donker, T. Mey, R. Sobierajski
Journal of the Optical Society of America B-Optical Physics 35, No 11 (2018) 2799-2805.
J. Krása, D. Klír, K. Řezáč, J. Cikhardt, M. Krůs, A. Velyhan, M. Pfeifer, S. Buryšková, J. Dostál, T. Burian, R. Dudžák, K. Turek, T. Pisarczyk, Z. Kalinowska, T. Chodukowski, J. Kaufman
Physics of Plasmas 25 (2018) 113112 (1)-113112 (10).
T. Pisarczyk, S.Yu Gus’kov, A. Zaras-Szydłowska, R. Dudžák, O. Renner, T. Chodukowski, Z. Rusiniak, T. Burian, N. Borisenko, M. Rosinski, M. Krupka, P. Parys, D. Klir, J. Cikhardt, K. Rezac, J. Krása, Y.-J. Rhee, P. Kubes, S. K. Singh, S. Borodziuk, M. Krůs, L. Juha, K. Jungwirth, J. Hrebicek, T. Medrik, J. Golasowski, M. Pfeifer, J. Skála, P. Pisarczyk, Ph. Korneev
Scientific Reports 8:17895 (2018) 17895(1)-17895(11).
A.R. Khorsand, R. Sobierajski, E. Louis, S. Bruijn, E.D. van Hattum, R.W.E. van de Kruijs, M. Jurek, D. Klinger, J.B. Pelka, L. Juha, T. Burian, J. Chalupský, J. Cihelka, V. Hájková, L. Vyšín, U. Jastrow, N. Stojanovic, S. Toleikis, H. Wabnitz, K. Tiedtke, K. Sokolowski-Tinten, U. Shymanovich, J. Krzywinski, S. Hau-Riege, R. London, A. Gleeson, E.M. Gullikson, F. Bijkerk
Optics Express 18 (2010) 700-712.
S. M. Vinko, U. Zastrau, S. Mazevet, J. Andreasson, S. Bajt, T. Burian, J. Chalupský, H. N. Chapman, J. Cihelka, D. Doria, T. Döppner, S. Düsterer, T. Dzelzainis, R. R. Fäustlin, C. Fortmann, E. Förster, E. Galtier, S. H. Glenzer, S. Göde G. Gregori1, J. Hajdu, V. Hájková, P. A. Heimann, R. Irsig, L. Juha, M. Jurek, J. Krzywinski, T. Laarmann, H. J. Lee, R. W. Lee, B. Li, K.-H. Meiwes-Broer, J. P. Mithen, B. Nagler, A. J. Nelson, A. Przystawik, R. Redmer, D. Riley, F. Rosmej, R. Sobierajski, F. Tavella, R. Thiele, J. Tiggesbäumker, S. Toleikis, T. Tschentscher, L. Vyšín, T. J. Whitcher, S. White, J. S. Wark
Physical Review Letters 104 (2010) 225001(1)- 225001(4).
S. P. Hau-Riege, R. A. London, A. Graf, S. L. Baker, R. Soufli, R. Sobierajski, T. Burian, J. Chalupský, L. Juha, J. Gaudin, J. Krzywinski, S. Moeller, M. Messerschmidt, J. Bozek, C. Bostedt
Optics Express 23 (2010) 23933-23938.
J. Chalupský, J. Krzywinski, L. Juha, V. Hájková, J. Cihelka, T. Burian, L. Vyšín, J. Gaudin, A. Gleeson, M. Jurek, A.R. Khorsand, D. Klinger, H. Wabnitz, R. Sobierajski, M. Störmer, K. Tiedtke, S. Toleikis
Optics Express 18 (2010) 27836-27845.