1. I. A. Makhotkin, R. Sobierajski, J. Chalupský, K. Tiedtke, G. de Vries, M. Störmer, F. Scholze, F. Siewert, R. W. E. van de Kruijs, I. Milov, E. Louis, I. Jacyna, M. Jurek, D. Klinger, L. Nittler, Y. Syryanyy, L. Juha, V. Hájková, V. Vozda, T. Burian, K. Saksl, B. Faatz, B. Keitel, E. Plönjes, S. Schreiber, S. Toleikis, R. Loch, M. Hermann, S. Strobel, H.-K. Nienhuys, G. Gwalt, T. Mey, H. Enkisch
    Experimental study of EUV mirror radiation damage resistance under long-term free-electron laser exposures below the single-shot damage threshold
    Journal of Synchrotron Radiation 25 (2018) 77-84.
  2. Q. Y. van den Berg, E. V. Fernandez-Tello, T. Burian, J. Chalupský, H.-K Chung, O. Ciricosta, G. L. Dakovski, V. Hájková, P. Hollebon, L. Juha, J. Krzywinski, R.W. Lee, M. P. Minitti, T. R. Preston, A. G. de la Varga, V. Vozda, U. Zastrau, J. S. Wark, P. Velarde, S. M. Vinko
    Clocking femtosecond collisional dynamics via resonant x-ray spectroscopy
    Physical Review Letters 120 (2018) 055002(1)-055002(6).
  3. V. Vozda, T. Burian, J. Chalupský, V. Dědič, V. Hájkova, P. Hlídek, L. Juha, M. Kozlová, M. Krůs, J. Kunc, M. Rejhon, L. Vyšín, J.J. Rocca, J. Franc
    Micro-Raman mapping of surface changes induced by XUV laser radiation in cadmium telluride
    Journal of Alloys and Compounds 763 (2018) 662-669.
  4. I. Milov, I. A. Makhotkin, R. Sobierajski, N. Medvedev, V. Lipp, J. Chalupský, J. M. Sturm, K. Tiedtke, G. de Vries, M. Stoermer, F. Siewert, R. van de Kruijs, E. Louis, I. Jacyna, M. Jurek, L. Juha, V. Hájková, V. Vozda, T. Burian, K. Saksl, B. Faatz, B. Keitel, E. Ploenjes, S. Schreiber, S. Toleikis, R. Loch, M. Hermann, S. Strobel, H.-K. Nienhuys, G. Gwalt, T. Mey, H. Enkisch, F. Bijkerk
    Mechanism of single-shot damage of Ru thin films irradiated by femtosecond extreme UV free-electron laser
    Optics Express 26, No.15 (2018) 19665-19685.
  5. I.A. Makhotkin, I. Milov, J. Chalupský, K. Tiedtke, H. Enkisch, G. de Vries, F. Scholze, F. Siewert, J.M. Sturm, K.V. Nikolaev, R.W.E. van de Kruijs, M.A. Smithers, H.A.G.M. van Wolferen, E.G. Keim, E. Louis, I. Jacyna, M. Jurek, D. Klinger, J.B. Pelka, L. Juha, V. Hájková, V. Vozda, T. Burian, K. Saksl, B. Faatz, B. Keitel, E. Plonjes, S. Schreiber, S. Toleikis, R. Loch, M. Hermann, S. Strobel, R. Donker, T. Mey, R. Sobierajski
    Damage accumulation in thin ruthenium films induced by repetitive exposure to femtosecond XUV pulses below the single-shot ablation threshold
    Journal of the Optical Society of America B-Optical Physics 35, No 11 (2018) 2799-2805.