Přeskočit do hlavního obsahu
FZU
Menu
Kontakty
Facebook
Twitter
Instagram
Youtube
Menu uživatelského účtu
Přihlásit se
English
Hlavní navigace
Výzkum
Výzkumné sekce a oddělení
Organizační schéma
Výzkumná témata
Významné výsledky
Publikace
Projekty
Společná pracoviště
Partnerské instituce
Aktuality z výzkumu
Lidé
Služby
Podpora vědců
Pro firmy
Oblasti expertízy
Patenty a licence
Vybavení a technologie
Možnosti spolupráce
Reference
Aktuality
Události
Popularizace
Akce pro veřejnost
Výukové materiály
Online přednášky
Časopisy a weby
Virtuální prohlídky
Kariéra
Volná místa
Pro studující
Proč FZU?
Rozvoj kariéry
Welcome office
Kontaktujte nás
HR Award
Alumni klub FZU
O FZU
Kontakt
Organizační struktura
Vedení FZU
Rada FZU
Dozorčí rada FZU
Mezinárodní poradní sbor
Činnost FZU
Historie FZU
Úřední deska
Pro média
English
Menu uživatelského účtu
Přihlásit se
Drobečková navigace
Home
Výzkum
Výzkumné sekce a oddělení
Sekce fyziky pevných látek
Oddělení tenkých vrstev a nanostruktur
Laboratoř pro Si:H depozice
Publikace
Laboratoř pro Si:H depozice
O nás
Lidé
Publikace
(vaše aktuální poloha)
Název:
Rok:
Vše
2024
2023
2022
2021
2020
2019
2018
2017
2016
2015
2014
2013
2012
(-)
2011
2010
2009
2008
2007
2006
2005
2004
2003
2002
2001
2000
1983
Typ:
(-)
Vše
Časopisy
M. Ledinský
,
A. Fejfar
,
A. Vetuško
,
J. Stuchlík
,
B. Rezek
,
J. Kočka
Local photoconductivity of microcrystalline silicon thin films measured by conductive atomic force microscopy
Physica Status Solidi-Rapid Research Letters 5 (2011) 373-375.
E. Verveniotis
,
B. Rezek
,
E. Šípek
,
J. Stuchlík
,
M. Ledinský
,
J. Kočka
Impact of AFM-induced nano-pits in a-Si:H films on silicon crystal growth
Nanoscale Research Letters 6 (2011) 145(1)-145(6).
O nás
Lidé
Publikace
(vaše aktuální poloha)
Aby vám nic neuteklo
Přihlaste se k odběru nejzajímavějších novinek z fyzikálního světa.
You must have JavaScript enabled to use this form.
E-mail
This is required.
Odebírat
Informace o zpracování osobních údajů
© 1998 – 2024 Copyright © Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.