O nás

Ing. Markéta Jarošová, Ph.D.

Funkce zaměstnance
Vedoucí pracovní skupiny
Telefon
220 318 591, 220 318 491
E-mail
jarosova [at] fzu.cz
Lokalita
Cukrovarnická
Místnost
A 58/2
A 60/2
Souhrn

Laboratoř RTG mikroanalýzy je celoústavním servisním pracovištěm nabízejícím služby nejen všem vědeckým pracovníkům FZU, ale také externím zájemcům jak z akademické, tak komerční sféry.

Text
JEOL Superprobe
Popis

Elektronový mikroanalyzér JEOL  JXA- 8230 s pěti WDS a dvěma EDS

Poskytuje kvalitativní a kvantitativní prvkovou analýzu pevných látek založenou na rentgenové emisní spektroskopii (EPMA – Electron Probe Micro Analysis). Touto metodou je možné analyzovat prvky od B až po U s prostorovým rozlišením cca 1mm3.

Naše laboratoř je vybavena elektronovým mikroanalyzátorem JXA-8230 firmy JEOL s pěti vlnově dispersními spektrometry (WDS) a dvěma energiově dispersními spektrometry (EDS). Toto uspořádání umožňuje jak rychlou orientační prvkovou analýzu, tak velice přesnou kvantitativní analýzu s mezí detekovatelnosti řádově 100 ppm.

Pomocí WDS spektrometrů je možné stanovovat koncentrace stopových prvků a také, díky velké spekrální rozlišovací schopnosti WDS, lze spolehlivě analyzovat materiály, které obsahují prvky, jejichž energie charakteristického záření se liší jen velmi málo.

Díky možnosti rastrování elektronovým svazkem po povrchu materiálu získáváme prvkové složení nejen z jednotlivých předem stanovených bodů, ale můžene provádět i prvkové mapování povrchu či podél zvolené linie a získat tak např. koncentrační profily. Rastrování povrchu se také využívá při zobrazování topografie povrchu pomocí sekundárních (SE) nebo zpětně odražených (BSE) elektronů. Rozlišení v případě SE je až 5 nm.

Metoda je vhodná pro širokou škálu materiálů, např. kovy, polovodiče, supravodiče, keramiku, geologické či archeologické vzorky. Díky speciálnímu softwaru je možné analyzovat také tenké vrstvy.

Rezervace přístroje na telefonních číslech: +420 220 318 402 nebo +420 220 318 591.