AFM

Nová metoda měření překonává nedostatky původní Kelvinovy sondy silového mikroskopu (KPFM) a posouvá současné možnosti studia přenosu náboje na atomární úrovni.

Poslední vývoj rastrovacích mikroskopů umožnil zobrazit chemickou strukturu jednotlivých molekul na povrchu pevné látky.

Mezinárodní tým vědců provedl detailní teoretickou analýzu atomárně rozlišených obrazů získaných pomocí mikroskopu STM a mikroskopu AFM uhlíkových materiálů. Výsledky byly publikovány v prestižním časopise Physical Review Letters.