Mikroskopické metody s rastrovací sondou dokáží detekovat materiálové vlastnosti (tvar, tuhost, pružnost, atp.), elektronické vlastnosti (elektrická vodivost, náboj, výstupní práce) i chemické složení s vysokým prostorovým rozlišením. V projektu budeme provádět korelované měření vybranými technikami (zejména mikroskopie atomárních sil, mikroskopie Kelvinovskou sondou, lokální měření proudu, mikro-mapování Ramanovských spekter) pro získání komplexní informaci o směsných organických vrstvách. V těchto experimentech bude ke studovaným vrstvám současně přivedeno osvětlení z různých typů zdrojů, což umožní studovat opto-elektronické jevy. Toho bude využito pro charakterizaci fotovoltaické funkce těchto organických vrstev s cílem identifikovat a omezit degradační mechanismy, které přestavují jeden z klíčových problémů jejich praktického využití.
Opto-elektronické a materiálové vlastnosti organickcých fotovoltaických článků korelované speciálními SPM metodami
Anotace