Your selection corresponds to 3 items
Název Režim přístupu Kategorie Kontaktní osoba
Mikroskopie atomárních sil + Ramanův spektrometr zakázkový přístup Spektroskopie
Rastrovací elektronový mikroskop Tescan Mira 3 zakázkový přístup Mikroskopie skenovací sondou Ing. Jiří Beránek
Rentgenový difraktometr zakázkový přístup Rentgenová krystalografie Dr. Yoann Levy