Komplexní měřící systém diagnostiky nízkoteplotního plazmatu aplikovaný při technologických procesech s možností měření s časovým rozlišením

Image
odd_25_exp_vybaveni_1.png
Text

Zařízení umožňuje provádět komplexní diagnostiku nízkoteplotního plazmatu s časovým rozlišením přímo při technologickém procesu. To zahrnuje měření časově rozlišených spekter iontů z plazmatu a jejich energetickou distribuční funkci, měření mikroparametrů plazmatu jako je elektronová distribuční funkce, potenciál plazmatu, koncentrace elektronů, iontů a ionizace depozičních částic.