Přeskočit do hlavního obsahu
Home Home
FZU
Kontakty
  • Facebook
  • Twitter
  • Instagram
  • Youtube

Menu uživatelského účtu

  • Přihlásit se
  • English

Hlavní navigace

  • Výzkum
    • Výzkumné sekce a oddělení
    • Organizační schéma
    • Výzkumná témata
    • Významné výsledky
    • Publikace
    • Projekty
    • Společná pracoviště
    • Partnerské instituce
    • Aktuality z výzkumu
  • Lidé
  • Služby
    • Podpora vědců
    • Pro firmy
    • Oblasti expertízy
    • Patenty a licence
    • Vybavení a technologie
    • Možnosti spolupráce
    • Reference
  • Novinky
  • Akce
  • Veřejnost
    • Akce pro veřejnost
    • Akce pro školy
    • Akce pro studenty
    • Novinky z popularizace
    • Výukové materiály
    • Online přednášky
    • Časopisy a weby
    • Virtuální prohlídky
  • Kariéra
    • Volná místa
    • Pro studující
    • Proč FZU?
    • Rozvoj kariéry
    • Welcome Office
    • Kontaktujte nás
    • HR Award
    • Alumni klub FZU
    • FAQ - Často kladené dotazy
  • O FZU
    • Kontakt
    • Organizační struktura
    • Vedení FZU
    • Rada FZU
    • Dozorčí rada FZU
    • Mezinárodní poradní sbor
    • Činnost FZU
    • Historie FZU
    • Úřední deska
    • Pro média
  • English

Menu uživatelského účtu

  • Přihlásit se

Drobečková navigace

  1. Home
  2. Výzkum
  3. Výzkumné sekce a oddělení
  4. Sekce fyziky pevných látek
  5. Oddělení tenkých vrstev a nanostruktur
  6. Výsledky

Oddělení tenkých vrstev a nanostruktur

  • O nás
  • Skupiny
  • Lidé
  • Výsledky (vaše aktuální poloha)
  • Publikace
  • Granty
  • Přístroje
  • Akce
  • Experti
  • Pro studenty
  • Novinky
  • Patenty
  • Volná místa
  • Studenti

Teplotní závislost Urbachovy energie olovnato-jodidových perovskitů

Image
Porovnání hustoty defektů různých polovodičů

Elektroluminiscence injekcí nosičů náboje pomocí hrotů funkcionalizovaných CO

Image
Figures - Correlating light and force maps on single molecules.png

Scalpel AFM – vývoj měřící techniky rozšiřující C-AFM

Image
3D tomografic reconstruction of thin microcrystalline silicon film. Red objects are microcrystalline grains with higher conductivity, blue colour visualize the amorphous part of the film.

Teplotní závislost Urbachovy energie hybridních organo-anorganických halidových perovskitů

Image
Comparison of static (temperature-independent) part of the Urbach energy of different semiconducting materials.

Nanodiamanty zlepšují fotokatalytické vlastnosti TiO2

Image
Schematic representation and opto-electronic properties of TiO2-nanodiamond nanocomposite.

Reziduum halogenidu olova jako zdroj světlem indukovaných reverzibilních defektů v hybridních perovskitových vrstvách a solárních článcích

Image
Dept27_VVFig6d.png

Zvýšená extrakce světla z křemíkových vakancí polykrystalického diamantu s použitím fotonických krystalů

Image
vv-11.jpg

Vyvinutí metody – Profilometrie křemíkových tenkých vrstev za použití spektroskopie Ramanova rozptylu

Image
a) Raman spectra measured on the a-Si:H stripe (blue line) and on an uncovered part of the flat c-Si wafer (orange line); b) Sketch of the test sample; c) Corresponding Raman map of c-Si integral intensities integrated over 505-535 cm-1 range.

Světelná emise trionu v křemíkových nanokrystalech s přímým zakázaným pásem potvrzená pomocí nízkoteplotní spektroskopie jednotlivých nanokrystalů

Image
Světelná emise trionu v křemíkových nanokrystalech s přímým zakázaným pásem potvrzená pomocí nízkoteplotní spektroskopie jednotlivých nanokrystalů

Nanostrukturované diamantové vrstvy podporující IR detekci biomolekul

Image
Nanostrukturované diamantové vrstvy podporující IR detekci biomolekul

Vliv proteinových mezivrstev na vlastnosti diamantových unipolárních tranzistorů

Image
Vliv proteinových mezivrstev na vlastnosti diamantových unipolárních tranzistorů

Výroba jasných luminiscenčních silikonových nanokrystalů při pokojové teplotě a atmosférickém tlaku

Image
Výroba jasných luminiscenčních silikonových nanokrystalů při pokojové teplotě a atmosférickém tlaku
  • O nás
  • Skupiny
  • Lidé
  • Výsledky (vaše aktuální poloha)
  • Publikace
  • Granty
  • Přístroje
  • Akce
  • Experti
  • Pro studenty
  • Novinky
  • Patenty
  • Volná místa
  • Studenti

Aby vám nic neuteklo

Přihlaste se k odběru nejzajímavějších novinek z fyzikálního světa.

Informace o zpracování osobních údajů

Patička - Typ uživatele

  • Pro studenty
  • Pro firmy
  • FZU Alumni
  • Akce pro veřejnost

Patička

  • Ochrana osobních údajů
  • Zásady používání cookies

Externí odkazy patička

  • Akademie věd České republiky
  • Facebook
  • Twitter
  • Instagram
  • Youtube

Fyzikální ústav AV ČR
Na Slovance 1999/2, 182 00 Praha 8 více >

© 1998 – 2025 Copyright © Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.