Výsledky | FZU

Teplotní závislost Urbachovy energie olovnato-jodidových perovskitů

Porovnání hustoty defektů různých polovodičů

Scalpel AFM – vývoj měřící techniky rozšiřující C-AFM

3D tomografic reconstruction of thin microcrystalline silicon film. Red objects are microcrystalline grains with higher conductivity, blue colour visualize the amorphous part of the film.

Vyvinutí metody – Profilometrie křemíkových tenkých vrstev za použití spektroskopie Ramanova rozptylu

a) Raman spectra measured on the a-Si:H stripe (blue line) and on an uncovered part of the flat c-Si wafer (orange line); b) Sketch of the test sample; c) Corresponding Raman map of c-Si integral intensities integrated over 505-535 cm-1 range.

© 1998 – 2025 Copyright © Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.