Ing. Matěj Hývl, Ph.D.
Naše laboratoř disponuje mikroskopem atomárních sil Dimension ICON od firmy Bruker vybaveným širokou nabídkou charakterizačních technik pro měření elektrických (C-AFM a KPFM ve standartní i rozšířené PeakForce variantě), magnetických (MFM) a mechanických (QNM) vlastností materiálů na nanometrové škále. Díky kombinaci skenování hlavou a velkému plně mechanizovanému stolku, dokážeme změřit neobvykle rozsáhlou škálu vzorků. Tuto kombinaci doplňuje zvláštní vybavení pro měření v kapalinách, či ochranné dusíkové atmosféře i stolek pro zahřívání či chlazení vzorků. Díky tomu můžeme spolupracovat s celou řadou dalších skupin na národní i mezinárodní úrovni formou sofistikovaných měření pokročilých materiálů určených pro polovodičový průmysl, spintroniku či fotovoltaiku. Laboratoře je součástí velké výzkumné infrastruktury CzechNanoLab, což umožňuje naší laboratoři poskytovat AFM servis široké škále zájemců. Vlastní výzkum laboratoře je zaměřen především na měření elektrických vlastností materiálů určených pro moderní fotovoltaiku jako jsou křemíkové selektivní kotakty či perovskity.
