AFM Bruker Dimension Icon, AFM Veeco Dimension IV |
uživatelský přístup |
Charakterizace a testování |
Ing. Matěj Hývl, Ph.D. |
Aparatura pro měření fotoluminescence a Ramanovy spektroskopie NTEGRA SPECTRA |
uživatelský přístup |
Mikroskopie skenovací sondou |
RNDr. Martin Ledinský, Ph.D. |
Mikroskop atomárních sil NTEGRA Prima |
zakázkový přístup |
Mikroskopie skenovací sondou |
RNDr. Jan Čermák, Ph.D. |
Mikrospekrometr Renishaw inVia Reflex |
uživatelský přístup |
Spektroskopie |
RNDr. Martin Ledinský, Ph.D. |
Mikrospektrometr Renishaw inVia Reflex 2 |
uživatelský přístup |
Spektroskopie |
RNDr. Martin Ledinský, Ph.D. |
Skenovací elektronový mikroskop MAIA 3 |
uživatelský přístup |
Elektronová mikroskopie |
Mgr. Pavla Bauerová |
Ultracentrifuga Optima MAX-XP |
uživatelský přístup |
Zpracování materiálů |
Ing. Štěpán Stehlík, Ph.D. |
Ultrazvukový homogenizátor Hielscher UP200S |
uživatelský přístup |
Zpracování materiálů |
Ing. Štěpán Stehlík, Ph.D. |
Zetasizer Nano ZS – ZEN3600 s autotitrátorem MPT-2 a vakuovým odplyňovačem |
uživatelský přístup |
Distribuce velikosti částic |
Ing. Štěpán Stehlík, Ph.D. |