| AFM Bruker Dimension Icon, AFM Veeco Dimension IV |
uživatelský přístup |
Charakterizace a testování |
|
| Aparatura ALD Picosun R-200 Advanced pro depozici atomárních vrstev |
zakázkový přístup |
Příprava materiálů |
|
| Aparatura pro měření fotoluminescence a Ramanovy spektroskopie NTEGRA SPECTRA |
uživatelský přístup |
Mikroskopie skenovací sondou |
|
| Glovebox Mbraun Labstar (2 rukavice) |
uzavřený |
Příprava materiálů |
|
| Mikroskop atomárních sil NTEGRA Prima |
zakázkový přístup |
Mikroskopie skenovací sondou |
|
| Mikrospekrometr Renishaw inVia Reflex |
uživatelský přístup |
Spektroskopie |
|
| Mikrospektrometr Renishaw inVia Reflex 2 |
uživatelský přístup |
Spektroskopie |
|
| PECVD aparatura Aurion pro depozici křemíkových materiálů |
zakázkový přístup |
Příprava materiálů |
|
| Skenovací elektronový mikroskop MAIA 3 |
uživatelský přístup |
Elektronová mikroskopie |
|
| Ultracentrifuga Optima MAX-XP |
uživatelský přístup |
Zpracování materiálů |
|
| Ultrazvukový homogenizátor Hielscher UP200S |
uživatelský přístup |
Zpracování materiálů |
|
| Zařízení pro měření elektrochemických vlastností baterií |
zakázkový přístup |
Charakterizace a testování |
|
