Your selection corresponds to 9 items
Název Režim přístupu Kategorie Kontaktní osoba
AFM Bruker Dimension Icon, AFM Veeco Dimension IV uživatelský přístup Charakterizace a testování Ing. Matěj Hývl, Ph.D.
Aparatura pro měření fotoluminescence a Ramanovy spektroskopie NTEGRA SPECTRA uživatelský přístup Mikroskopie skenovací sondou RNDr. Martin Ledinský, Ph.D.
Mikroskop atomárních sil NTEGRA Prima zakázkový přístup Mikroskopie skenovací sondou RNDr. Jan Čermák, Ph.D.
Mikrospekrometr Renishaw inVia Reflex uživatelský přístup Spektroskopie RNDr. Martin Ledinský, Ph.D.
Mikrospektrometr Renishaw inVia Reflex 2 uživatelský přístup Spektroskopie RNDr. Martin Ledinský, Ph.D.
Skenovací elektronový mikroskop MAIA 3 uživatelský přístup Elektronová mikroskopie Mgr. Pavla Bauerová
Ultracentrifuga Optima MAX-XP uživatelský přístup Zpracování materiálů Ing. Štěpán Stehlík, Ph.D.
Ultrazvukový homogenizátor Hielscher UP200S uživatelský přístup Zpracování materiálů Ing. Štěpán Stehlík, Ph.D.
Zetasizer Nano ZS – ZEN3600 s autotitrátorem MPT-2 a vakuovým odplyňovačem uživatelský přístup Distribuce velikosti částic Ing. Štěpán Stehlík, Ph.D.