Váš výběr odpovídá 22 položkám
Název Režim přístupu Kategorie Kontaktní osoba
AFM Bruker Dimension Icon, AFM Veeco Dimension IV uživatelský přístup Charakterizace a testování
Aparatura MOVPE AIXTRON CCS 3×2 FT pro přípravu nitridových polovodičů uživatelský přístup Příprava nanostruktur
Elektronový mikroskop Philips 30XL uživatelský přístup Elektronová mikroskopie
Fourierovský infračervený spektrometr (FTIR) uživatelský přístup Charakterizace a testování
Fyzikální nanášení tenkých vrstev zakázkový přístup Tenké vrstvy a povlaky
Kapacitní a impedanční měření zakázkový přístup Elektrická měření
Laboratorní pec LAC typ LV15/13MT uživatelský přístup Zpracování materiálů
Laminární box (Flowbox) uživatelský přístup Příprava materiálů
Mikroskop atomárních sil NTEGRA Prima zakázkový přístup Mikroskopie skenovací sondou
Mikrovlnný plazmatický systém PE CVD pro růst diamantových vrstev uzavřený Příprava materiálů
Monochromátor SDL-1 uživatelský přístup Spektroskopie
Seki Diamond Systems SDS6K uživatelský přístup Příprava materiálů