AFM Bruker Dimension Icon, AFM Veeco Dimension IV |
uživatelský přístup |
Charakterizace a testování |
|
Aparatura MOVPE AIXTRON CCS 3×2 FT pro přípravu nitridových polovodičů |
uživatelský přístup |
Příprava nanostruktur |
|
Elektronový mikroskop Philips 30XL |
uživatelský přístup |
Elektronová mikroskopie |
|
Fourierovský infračervený spektrometr (FTIR) |
uživatelský přístup |
Charakterizace a testování |
|
Fyzikální nanášení tenkých vrstev |
zakázkový přístup |
Tenké vrstvy a povlaky |
|
Kapacitní a impedanční měření |
zakázkový přístup |
Elektrická měření |
|
Laboratorní pec LAC typ LV15/13MT |
uživatelský přístup |
Zpracování materiálů |
|
Laminární box (Flowbox) |
uživatelský přístup |
Příprava materiálů |
|
Mikroskop atomárních sil NTEGRA Prima |
zakázkový přístup |
Mikroskopie skenovací sondou |
|
Mikrovlnný plazmatický systém PE CVD pro růst diamantových vrstev |
uzavřený |
Příprava materiálů |
|
Monochromátor SDL-1 |
uživatelský přístup |
Spektroskopie |
|
Seki Diamond Systems SDS6K |
uživatelský přístup |
Příprava materiálů |
|