Přístroje

Váš výběr odpovídá 25 položkám

Zobrazení:

Název	Režim přístupu	Kategorie	Kontaktní osoba
AFM Bruker Dimension Icon, AFM Veeco Dimension IV	uživatelský přístup	Charakterizace a testování	Ing. Matěj Hývl, Ph.D.
Aparatura MOVPE AIXTRON CCS 3×2 FT pro přípravu nitridových polovodičů	uživatelský přístup	Příprava nanostruktur	Ing. Alice Hospodková, Ph.D.
Elektronový mikroskop FEI/Philips XL30 ESEM	uživatelský přístup	Elektronová mikroskopie	Ing. František Hájek, Ph.D.
Fourierovský infračervený spektrometr (FTIR)	uživatelský přístup	Charakterizace a testování	Mgr. Zdeněk Remeš, Ph.D.
Fourierovský infračervený spektrometr (FTIR) Vertex 70V	uživatelský přístup	Spektroskopie	Ing. Štěpán Stehlík, Ph.D.
Fyzikální nanášení tenkých vrstev	zakázkový přístup	Tenké vrstvy a povlaky	RNDr. Pavel Hubík, CSc.
Kapacitní a impedanční měření	zakázkový přístup	Elektrická měření	RNDr. Pavel Hubík, CSc.
Laboratorní pec LAC typ LV15/13MT	uživatelský přístup	Zpracování materiálů	Ing. Štěpán Potocký, Ph.D.
Laminární box (Flowbox)	uživatelský přístup	Příprava materiálů	Ing. Mgr. Neda Neykova, Ph.D.
Mikroskop atomárních sil DriveAFM	uživatelský přístup	Mikroskopie skenovací sondou	Ing. Matěj Hývl, Ph.D.
Mikroskop atomárních sil NTEGRA Prima	zakázkový přístup	Mikroskopie skenovací sondou	RNDr. Jan Čermák, Ph.D.
Mikrovlnný plazmatický systém PE CVD pro růst diamantových vrstev	uzavřený	Příprava materiálů	prof. Ing. Alexander Kromka, DrSc.

Oddělení polovodičů