Mikroskop atomárních sil NTEGRA Prima

Text

Mikroskop atomárních sil NTEGRA Prima umožňuje kromě charakterizace topografie povrchů i celou řadu pokročilých mikroskopických metod: měření Kelvinovskou sondou (KPFM), vodivostní AFM (C-AFM), elektrochemické AFM, měření v kapalinách, STM. Detekční soustava používá infračervený laser (vlnová délka 1100 nm) pro minimalizaci parazitních efektů při optických a optoelektronických experimentech. Takové experimenty umožňuje zavedený světlovod do měřené oblasti, na který je možné navázat kontrolované zdroje světla (laser, sluneční simulátor apod.).