Rastrovací tunelový mikroskop i mikroskop atomárních sil jsou schopny dosáhnout atomárního rozlišení při zobrazování pevných povrchů. Souvislost tunelového proudu nebo atomárních sil se skutečnou atomární a elektronovou strukturou a elektronovou strukturou povrchů však není přímočará. Aby bylo možné lépe interpretovat data poskytovaná těmito mikroskopy, budou provedeny rozsáhlé výpočty, simulující interakci hrotu rastrující sondy s vybranými typy povrchu. Zahrnuta bude i relaxace struktury hrotu a povrchu v důsledku vzájemné interakce. Bude vypočten tunelový proud a síla vzájemného působení v závislosti na poloze hrotu. Mezi vybranými modelovými povrchy budou povrchy grafitu a křemíku s případným adsorbátem i povrchy kovových slitin. Budou porovnány výsledky získané s různými modely hrotu. Také bude studována možnost chemické identifikace jednotlivých atomů a možnost manipulovat atomy pomocí rastrujícího hrotu.
Ab-initio výpočty pro interpretaci mikroskopie s rastrující sondou
Anotace