RNDr. Mariana Klementová, Ph.D.
Laboratoř elektronové mikroskopie (LEM) se zabývá komplexní charakterizací anorganických materiálů v mikro/nanoměřítku. LEM provozuje skenovací (SEM) a transmisní (TEM) elektronové mikroskopy s širokým spektrem analytických metod, a rovnež přístroje pro pokročilou přípravu vzorků pro elektronovou mikroskopii. Dále také vyvíjíme software CrysTBox pro automatické zpracování TEM dat a jejich visualizaci.
V LEM je možné zkoumat vzorky kompaktní, práškové i tenké vrstvy. Zabýváme se převážně studiem kovů a jejich slitin, polovodičů, supravodičů, oxidických materiálů a minerálů, ale dokážeme analyzovat téměř jakýkoli anorganický materiál.
Spolupracujeme s vědeckými skupinami z Fyzikálního ústavu, zejména ze Sekce fyziky kondenzovaných látek, ale i s dalšími vědeckými pracovišti z ČR i ze zahraničí na řešení jejich výzkumných témat, které vyžadují expertízu v oboru elektronové mikroskopie. LEM je součástí výzkumné infrastruktury LNSM (od 2020 CzechNanoLab).
Neváhejte se na nás obrátit. Nabízíme následující typy analýz (podrobněji v záložce Nabízíme):
- morfologická analýza (SEM, TEM),
- fázová analýza/analýza krystalografické orientace (SEM / EBSD, TEM / ACOM),
- testování mechanických vlastností (SEM-nanoindentace),
- detekce proudu indukovaného dopadem elektronového svazku (SEM / EBIC),
- fázová analýza a morfologie jednotlivých fází (TEM / EDX / ED / EELS),
- zobrazení strukutry s atomárním rozlišením a defektů ve struktuře (HRTEM),
- zobrazení magnetických domén a jejich vzájemné orientace (LTEM),
- in-situ mikroskopie (zahřívání, deformace tlakem/tahem).
Obrázek: Pomocí in-situ nanoindentace je možné pozorovat mechanické vlastnosti materiálů v mikroměřítku. Zobrazena jsou tahová dvojčata vznikající při namáhání hořčíkových mikrokonzolí. Při experimentu byl použit mikroskop SEM FEI Quanta 3D (nanoobrábění pomocí galiového iontoveho svazku FIB, in-situ nanoindentace a difrakce zpětně odražených elektronů EBSD pro analýzu krystalografické orientace tahových dvojčat).