Nabízíme komplexní charakterizaci anorganických materiálů v mikro/nanoměřítku pomocí metod skenovací (SEM) a transmisní (TEM) elektronové mikroskopie.
Nabízíme následující typy analýz:
Skenovací elektronová mikroskopie (SEM)
- morfologická analýza a zobrazení povrchu - příklad
- analýza chemického složení (EDX) - příklad
- fázová analýza (EDX/EBSD) - příklad
- analýza krystalografické orientace (EBSD) - příklad
- nanoindentace - příklad
- obrábění iontovým svazkem (FIB) - příklad
- zobrazení indukovaného proudu (EBIC) - příklad
- in-situ mikroskopie (zahřívání, deformace tahem/tlakem/ohybem) - příklad
Transmisní elektronová mikroskopie (TEM)
- morfologická analýza a zobrazení (BF/DF) - příklad
- analýza chemického složení (EDX) - příklad
- analýza chemického složení (EELS) - příklad
- fázová analýza (ED/EDX/EELS) - příklad
- skenovací TEM (STEM/HAADF) - příklad
- analýza krystalografické orientace (ACOM) - příklad
- analýza napětí (ACOM) - příklad
- zobrazení s atomárním rozlišením (HRTEM) - příklad
- zobrazení magnetických domén (LTEM) - příklad
- in-situ mikroskopie (zahřívání, deformace tahem) - příklad
© 1998 – 2025 Copyright © Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.