Nabízíme komplexní charakterizaci anorganických materiálů v mikro/nanoměřítku pomocí metod skenovací (SEM) a transmisní (SEM) elektronové mikroskopie. Dále také vyvíjíme software CrysTBox pro automatické zpracování TEM dat a jejich visualizaci, který je volně přístupný zde.
Nabízíme následující typy analýz:
Skenovací elektronová mikroskopie (SEM)
- morfologická analýza, zobrazení povrchu,
- analýza chemického složení (EDX),
- fázová analýza (EDX / EBSD),
- analýza krystalografické orientace (EBSD),
- testování mechanických vlastností (nanoindentace),
- obrábění iontovým svazkem (FIB),
- detekce proudu indukovaného dopadem elektronového svazku (EBIC),
- in-situ mikroskopie (zahřívání, deformace tlakem/tahem).
Transmisní elektronová mikroskopie (TEM)
- morfologická analýza a zobrazení (BF/DF),
- analýza chemického složení (EDX / EELS / EFTEM),
- fázová analýza a morfologie jednotlivých fází (ED / EDX / EELS),
- skenovací TEM (STEM / HAADF)
- analýza krystalografické orientace a napětí (ACOM),
- zobrazení strukutry s atomárním rozlišením a defektů ve struktuře (HRTEM),
- zobrazení magnetických domén a jejich vzájemné orientace (LTEM),
- in-situ mikroskopie (zahřívání, deformace tahem).
© 1998 – 2023 Copyright © Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.