Text
V článku je navržena plně optická metoda určení krystalové orientace kubických zrn pomocí Ramanova mikroskopu. Tato metoda je založena na univerzální silné polarizační anizotropii Ramanova rozptylu díky dvojnásobně degenerovaným optickým fononovým módům. Realizovatelnost tohoto postupu je demonstrována pomocí porovnání orientací zrn v polykrystalickém kubickém spinelu GaV4S8, zjištěných nezávisle pomocí difrakce zpětně odražených elektronů a metody využívající Ramanova rozptylu.
Kontaktní osoba: Jiří Hlinka
Popis
Morfologie zrn keramiky GaV4S8.
(a) Snímek zkoumané oblasti, pořízený pomocí skenovací elektronové mikroskopie, se souřadnou soustavou zobrazenou ve výřezu;
(b) Krystalografická orientace zrn v oblasti zobrazené v (a) z EBSD analýzy;
(c) pozice čtyř zrn vybraných pro detailní měření pomocí Ramanovy spektroskopie; vyznačené projekce elementárních kubických cel objasňují jejich krystalografickou orientaci;
(d) jednotkový trojúhelník s barevným kódem k určení orientace zrn.
(e) normály na povrch vybraných zrn;
(f) Poměr intenzit Ramanova rozptylu s rovnoběžnými polarizátory od těchto čtyř zrn, umožňující určit jejich krystalografickou orientaci nezávisle na analýze EBSD. Data ukazují poměr intenzit na vybraných frekvencích jako funkci úhlu ϕ mezi polarizátorem a referenčním směrem na povrchu vzorku.
(a) Snímek zkoumané oblasti, pořízený pomocí skenovací elektronové mikroskopie, se souřadnou soustavou zobrazenou ve výřezu;
(b) Krystalografická orientace zrn v oblasti zobrazené v (a) z EBSD analýzy;
(c) pozice čtyř zrn vybraných pro detailní měření pomocí Ramanovy spektroskopie; vyznačené projekce elementárních kubických cel objasňují jejich krystalografickou orientaci;
(d) jednotkový trojúhelník s barevným kódem k určení orientace zrn.
(e) normály na povrch vybraných zrn;
(f) Poměr intenzit Ramanova rozptylu s rovnoběžnými polarizátory od těchto čtyř zrn, umožňující určit jejich krystalografickou orientaci nezávisle na analýze EBSD. Data ukazují poměr intenzit na vybraných frekvencích jako funkci úhlu ϕ mezi polarizátorem a referenčním směrem na povrchu vzorku.