Největší výzvu současné krystalografie představuje určení a upřesnění struktury velmi malých krystalů, které nemohou být změřeny obvyklými metodami rentgenové difrakce kvůli jejich příliš slabému difrakčnímu signálu. Tyto krystaly je možné studovat za použití elektronové difrakce, metody, která na jednu stranu zaručuje velice silný difrakční signál, ale zároveň trpí značnými problémy jak při samotném měření dat, tak i při jejich následném počítačovém zpracování z důvodu mimořádně silných interakcí mezi elektrony a krystalickým materiálem.
Tato silná interakce způsobuje vícenásobný rozptyl elektronů zabraňující aplikaci prosté kinematické teorie difrakce a zároveň radiační poškození organických vzorků.
Předmětem našeho výzkumu je rozvoj experimentálních metod potlačující vícenásobný rozptyl, a včlenění zbývajících důsledků několikanásobného tříštění do výpočtu modelové intenzity za použití dynamické teorie difrakce. Tento přístup zkráceně nazývaný dynamické upřesňování je složitý a náročný na počítačové systémy, ale poskytuje přesnější výsledky než tradiční přístupy.
