Image
Text
Transmisní elektronový mikroskop Jeol JEM-1200EX umožňuje pozorování metodami konvenční elektronové mikroskopie (zobrazování ve světlém/tmavém poli a elektronová difrakce) a provádění in-situ experimentů (pevnost vzorků v tahu, dynamické pozorování dislokací) při pokojové teplotě a při zahřátí (max. 300°C).