Image
Text
Transmisní elektronový mikroskop FEI Tecnai TF20 X-Twin s autoemisní katodou (FEG) umožnuje komplexní charakterizaci materiálů na nanometrovém meřítku kombinací informací o morfologie vzorku (BF/DF zobrazení), chemickém složení (EDS, EELS, EFTEM) a atomární struktuře (elektronová difrakce). Přímé zobrazení atomární struktury a jejích defektů lze pozorovat s rozlišením 0.19 nm (HRTEM). Mikroskop je možné provozovat také ve skenovacím režimu (STEM - HAADF) např. pro pozorování nanočástic těžkých prvků v matrici. Přídavné zařízení ASTAR umožnuje mapování fází, jejich krystalografické orientace a napětí ve vzorku s nanometrovým rozlišením. Lorentzovská čočka poskytuje visualizaci domén a jejich vzájemnou orientaci v magnetických materiálech.