Image Režim uživatelský přístup Kategorie Charakterizace a testování > Mikroskopie skenovací sondou Zařazení do struktury Oddělení analýzy funkčních materiálů Kontaktní osoba Ing. Kateřina Horáková, Ph.D. Text Scanning Tunneling Microscope (Omicron)- temperature range 50K < T < 300K- standard in-situ UHV surface preparation- LEED / Auger- metal/molecule evaporators
