Skenovací elektronový mikroskop Tescan FERA 3 umožňuje využití dvou sad detektorů elektronů – konvenčních a in-beam v tubusu umístěných. K dispozici je nízkonapěťová mikroskopie (katodová čočka) do 200 V urychlovacího napětí a nízkovakuová mikroskopie do 500 Pa dusíku v komoře mikroskopu. Mikroskop je vybaven EDS detektorem, EBSD kamerou i metodou EBIC. Skupina je schopna připravovat metalografické výbrusy. Plazmový Xe-FIB slouží k mikro- a nano-manipulaci, avšak šířka svazku je minimálně 100 nm, nicméně je možné připravit pilířky i TEM lamely. Dostupné jsou metody 3D destruktivní tomografie postupným odřezáváním plátků a zobrazení i mapování EDS / EBSD. V komoře mohou být použity stolky pro deformaci (do 2 kN), nanoindentor a omezeně ohřev či chlazení (peltierův článek).
