Image
Text
Skenovací elektronový mikroskop FEI QUANTA 3D vybavený energiově disperzním detektorem (EDS) a detektorem difrakce zpětně rozptýlených elektronů (EBSD) umožňuje 2D/3D zobrazení a charakterizaci materiálů v mikro/nanoměřítku např. 2D/3D krystalografické mapy, určení gradientu chemického složení, analýzu prostorové distribuce částic, fází a inkluzí o velikosti nanometrů až po stovky mikrometrů. Fokusovaný iontový svazek (FIB) umožňuje výrobu dobře definovaných 3D objektů mikroskopických rozměrů např. pro nanomechanické testování pomocí nanoindentoru Hysitron PI 85 SEM PicoIndenter, přípravu TEM fólií, prototypování a sestavování MEMS, nebo modifikaci AFM hrotů.