Mikroskop atomárních sil DriveAFM

DriveAFM_01.jpg
Režim
uživatelský přístup
Kategorie
Charakterizace a testování > Mikroskopie skenovací sondou
Zařazení do struktury
Oddělení tenkých vrstev a nanostruktur
Kontaktní osoba
Výrobce
Nanosurf

Mikroskop atomárních sil DriveAFM umožňuje rychlou charakterizaci povrchů s vysokým rozlišením. K dispozici jsou pokročilé metody jako měření Kelvinovskou sondou (KPFM) v několika režimech (AM-KPFM, FM-KPFM, heterodyne KPFM) s využitím rychlého a přesného externího lock-inu HF2LI (Zurich Instruments) nebo lokální elektrické vodivosti s logaritmickým proudovým předzesilovačem. V systému je zakomponován dodatečný laser určený k buzení vibrací samotného raménka s hrotem, čímž je dosaženo nižšího šumu a lepší stability oproti standartnímu řešení s piezokrystalem.