Databáze patentů

FZU nabízí k využití svoje portfolio českých a mezinárodních patentů. Patentové přihlášky jsou připravovány ústavním patentovým zástupcem, který působí jako český i evropský zástupce. Licence k využití průmyslových práv je obvykle poskytována jako nevýhradní, ovšem na základě individuálních jednání jsou možné i jiné formy. Licenční ujednání jsou zprostředkována skupina Transferu znalosti a technologií.

  1. P. Adámek, M. Čada, Z. Hubička, L. Jastrabík, Š. Kment, J. Olejníček
    A method of measurement synchronisation for plasma probe diagnostics and measuring system for conducting this method
  2. A. Hospodková, J. Pangrác, J. Oswald
    Gallium arsenide antimonite layer with graded composition for reducing strain in indium arsenide/gallium arsenide quantum dots
  3. K. Kůsová, O. Cibulka, K. Dohnalová, K. Žídek, A. Fučíková a I.Pelant
    Methods for the preparation of optically clear solutions of silicon nanocrystals with short-wavelength luminescence
  4. P. Adámek, M. Čada, Z. Hubička, Š. Kment, J. Olejníček
    Programmable system for monitoring and control of thin film deposition plasma systems
  5. P. Adámek, M. Čada, Z. Hubička, Š. Kment, J. Olejníček, P. Lukašík, A. Piják
    Acquisition system for time-resolved the Langmuir probe diagnostics of discharges
  6. P. Adámek, M. Čada, Z. Hubička, Š. Kment, P. Lukašík, J. Olejníček, A. Piják
    Programmable Dip-Coater for deposition of thin films in chemical solutions
  7. P. Adámek, M. Čada, Z. Hubička, L. Jastrabík
    Measuring system for microwave diagnostic of the plasma.
  8. P. Adámek, Z. Hubička, Š. Kment, M. Čada, L. Jastrabík
    Control and monitoring software for plasma depositon control system.
  9. Z. Hubička, M. Čada, P. Adámek, Š. Kment, J. Olejníček
    An apparatus for neutral and ion flux measurement on substrate in a low-temperature plasma
  10. H. Kozak, Z. Remeš, O. Babčenko, A. Kromka, M. Varga
    Multilayer optical system for detection of infrared spectra of functionalized diamond surfaces
  11. Z. Hubička, M. Čada, T. Kubart, P. Adámek, J. Olejníček, Š. Kment
    System for measurement of ion and neutral particles flux deposited onto substrate during thin film deposition process
  12. P. Adámek, M. Čada, Z. Hubička, Š. Kment, J. Olejníček
    Measuring system for microwave plasma diagnostics
  13. O. Churpita, A. Dejneka, V. Zablotskyy, Š. Kubinová, E. Syková
    Atmospheric plasma source for biomedical applications
  14. M. Nikl, P. Boháček
    Scintillator on the basis of lead tungstate
  15. M. Houška, J. Strohalm, A. Landfeld, J. Heller, J. Kamarád
    Facilities for the realization of high-pressure technologies