Perex
V přednášce bude představena problematika metrologického zajištění měření délky a dalších veličin v nanoměřítku. S ohledem na stále se zvyšující nároky na měření pomocí metod rastrovací mikroskopie se i v metrologii stávají nezbytnými numerické simulace. Z pohledu potřeb nanometrologie bude diskutována jak klasická a kvantová molekulární dynamika, využívaná při řešení otázek spojených s konfigurací hrot-povrch tak metoda FDTD (Finite Difference in Time Domain), umožňující simulace šíření elektromagnetického pole v mikro- a nanoměřítku.
Text
Pro oba přístupy je využit výpočetní přístup založený na grafických kartách, což umožňuje mnohonásobné zkrácení doby potřebné pro výpočty. Budou proto diskutovány také obecné možnosti grafických karet při numerických výpočtech v oblasti rastrovací mikroskopie a fyziky povrchů.