Ing. Jan Rohlíček, Ph.D.
Laboratoř RTG práškové difrakce na oddělení strukturní analýzy je vybavena dvěma moderními RTG difraktometry, které umožňují širokou škálu měření pro fázovou analýzu, studium fázových změn za různých teplot, strukturní analýzu anebo pro studium tenkých vrstev.
Hlavní činností laboratoře je tzv. strukturní analýza, tedy popis atomární struktury krystalických látek. Zásadním problémem strukturní analýzy na práškových vzorcích je vyřešení tzv. fázového problému, tj. zjištění hrubého strukturního modelu. V této oblasti používáme program Superflip, který byl vyvinut na našem oddělení, nebo program FOX, na jehož vývoji se naše oddělení částečně podílelo. Oba programy používají podstatně odlišný přístup k řešení problému a vhodně se tedy doplňují. Poslední fází strukturní analýzy je upřesnění atomárních parametrů tzv. Rietveldovou metodou. Rietveldovo upřesňování je prováděno pomocí krystalografického výpočetního systému Jana, který je též vyvíjen na našem oddělení.
Další činností laboratoře je studium fázových změn za různých teplot a studium kinetiky reakcí látek v reakční či průtokové kapiláře. Vybavení laboratoře umožňuje studium vzorků v teplotním intervalu od 90 K do 1450 K.
Studium reakcí v pevném stavu lze studovat díky vyvinutému držáku, ve kterém je umístěna reakční kapilára.
Vybavení laboratoře umožňuje studium vlastností tenkých vrstev. V laboratoři je možné měřit tzv. reflektivitu pro učení tlouštky vrstvy od 1 do 300 µm, rocking curve a reciprocal space mapping pro určení orientace a kvality vrstvy studované tenké vrstvy.
