Přeskočit do hlavního obsahu
Home Home
FZU
Kontakty
  • Facebook
  • LinkedIn
  • Bluesky
  • Instagram
  • Youtube

Menu uživatelského účtu

  • Přihlásit se
  • English

Hlavní navigace

  • Výzkum
    • Výzkumné sekce a oddělení
    • Organizační schéma
    • Výzkumná témata
    • Významné výsledky
    • Publikace
    • Projekty
    • Společná pracoviště
    • Partnerské instituce
    • Aktuality z výzkumu
  • Lidé
  • Služby
    • Podpora vědců
    • Pro firmy
    • Oblasti expertízy
    • Patenty a licence
    • Open Science
    • Vybavení a technologie
    • Možnosti spolupráce
    • Reference
  • Novinky
  • Akce
  • Veřejnost
    • Akce pro veřejnost
    • Akce pro školy
    • Akce pro studenty
    • Novinky z popularizace
    • Výukové materiály
    • Online přednášky
    • Časopisy a weby
    • Virtuální prohlídky
  • Kariéra
    • Volná místa
    • Pro studující
    • Proč FZU?
    • Rozvoj kariéry
    • Welcome Office
    • Kontaktujte nás
    • HR Award
    • Projekt Návraty
    • Alumni klub FZU
  • O FZU
    • Kontakt
    • Organizační struktura
    • Vedení FZU
    • Rada FZU
    • Dozorčí rada FZU
    • Mezinárodní poradní sbor
    • Činnost FZU
    • Historie FZU
    • Úřední deska
    • Pro média
  • English

Menu uživatelského účtu

  • Přihlásit se

Drobečková navigace

  1. Home
  2. Lidé
  3. RNDr. Martin Ledinský, Ph.D.
  4. Výsledky

RNDr. Martin Ledinský, Ph.D.

Foto
Image
Martin Ledinský
Pracovní pozice
Vedoucí laboratoře
Kategorie
Ved. věd. pracovník
Sekce (číslo)
Sekce fyziky pevných látek (3)
Oddělení (číslo)
Oddělení tenkých vrstev a nanostruktur (26)
Laboratoř / vědecká skupina
Laboratoř Raman (2610)
Tenké vrstvy (2611)
Laboratoř AFM (2603)
Telefon
220 318 663
E-mail
ledinsky [at] fzu.cz
Lokalita
Cukrovarnická
Místnost
C 211/7
  • Činnost
  • Výsledky (vaše aktuální poloha)
  • Publikace
  • Granty
  • Expertíza
  • Novinky
  • CV

Monolitické tandemy perovskit/křemík s účinností nad 28%

Image
Schéma tandemového solárního článku perovskit/křemík, vlevo a jeho foto, vpravo.

Vyvinutí metody – Profilometrie křemíkových tenkých vrstev za použití spektroskopie Ramanova rozptylu

Image
a) Raman spectra measured on the a-Si:H stripe (blue line) and on an uncovered part of the flat c-Si wafer (orange line); b) Sketch of the test sample; c) Corresponding Raman map of c-Si integral intensities integrated over 505-535 cm-1 range.

Aby vám nic neuteklo

Přihlaste se k odběru nejzajímavějších novinek z fyzikálního světa.

Informace o zpracování osobních údajů

Patička - Typ uživatele

  • Pro studenty
  • Pro firmy
  • FZU Alumni
  • Akce pro veřejnost

Patička

  • Ochrana osobních údajů
  • Zásady používání cookies

Externí odkazy patička

  • Akademie věd České republiky
  • Facebook
  • LinkedIn
  • Bluesky
  • Instagram
  • Youtube

Fyzikální ústav AV ČR
Na Slovance 1999/2, 182 00 Praha 8 více >

© 1998 – 2026 Copyright © Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.