1. J. Zemek, K. Olejník, P. Klapetek
    Surface Science 602 (2008) 1440-1446.
  2. E. Rozkotová, P. Němec, P. Horodyská, D. Sprinzl, F. Trojánek, P. Malý, V. Novák, K. Olejník, M. Cukr, T. Jungwirth
    Applied Physics Letters 92 (2008) 122507-122512.
  3. Physical Review B 78 (2008) 054403-1-054403-4.
  4. V. Novák, K. Olejník, J. Wunderlich, M. Cukr, K. Výborný, A. W., Rushforth, K. V. Edmonds, R. P. Campion, B. L. Gallagher, J. Sinova, T. Jungwirth
    Physical Review Letters 101 (2008) 077201-1-077201-4.
  5. M. Kopecký, E. Busetto, A. Lausi, Z. Šourek, J. Kub, M. Cukr, V. Novák, K. Olejník, J. P. Wright
    Journal of Applied Crystallography 41 (2008) 544-547.
  6. Surface Science 602 (2008) 2581-2586.
  7. E. Roztoková, P. Němec, N. Tesařová, P. Malý, V. Novák, K. Olejník, M. Cukr, T. Jungwirth
    Applied Physics Letters 93 (2008) 232505-1-232505-3.
  8. B.-G. Park, J. Wunderlich, D. A. Williams, S. J. Joo, K. Z. Jung, K. H. Shin, K. Olejník, A. Šik, T. Jungwirth
    Physical Review Letters 100 (2008) 087204-1-087204-4.
  9. E. Rozkotová, P. Němec, D. Sprinzl, P. Horodyská, F. Trojánek, P. Malý, V. Novák, K. Olejník, M. Cukr, T. Jungwirth
    IEEE Transactions on Magnetics 44 (2008) 2674-2677.
  10. Z. Šourek, M. Kopecký, J. Kub, E. Busetto, A. Lausi, M. Cukr, V. Novák, K. Olejník
    Location of Mn sites in GaMnAs thin films studied by means of X-ray diffuse scattering
    Acta Crystallographica Section A 64 (2008) C555-C555.