1. A.R. Khorsand, R. Sobierajski, E. Louis, S. Bruijn, E.D. van Hattum, R.W.E. van de Kruijs, M. Jurek, D. Klinger, J.B. Pelka, L. Juha, T. Burian, J. Chalupský, J. Cihelka, V. Hájková, L. Vyšín, U. Jastrow, N. Stojanovic, S. Toleikis, H. Wabnitz, K. Tiedtke, K. Sokolowski-Tinten, U. Shymanovich, J. Krzywinski, S. Hau-Riege, R. London, A. Gleeson, E.M. Gullikson, F. Bijkerk
    Optics Express 18 (2010) 700-712.
  2. S. M. Vinko, U. Zastrau, S. Mazevet, J. Andreasson, S. Bajt, T. Burian, J. Chalupský, H. N. Chapman, J. Cihelka, D. Doria, T. Döppner, S. Düsterer, T. Dzelzainis, R. R. Fäustlin, C. Fortmann, E. Förster, E. Galtier, S. H. Glenzer, S. Göde G. Gregori1, J. Hajdu, V. Hájková, P. A. Heimann, R. Irsig, L. Juha, M. Jurek, J. Krzywinski, T. Laarmann, H. J. Lee, R. W. Lee, B. Li, K.-H. Meiwes-Broer, J. P. Mithen, B. Nagler, A. J. Nelson, A. Przystawik, R. Redmer, D. Riley, F. Rosmej, R. Sobierajski, F. Tavella, R. Thiele, J. Tiggesbäumker, S. Toleikis, T. Tschentscher, L. Vyšín, T. J. Whitcher, S. White, J. S. Wark
    Physical Review Letters 104 (2010) 225001(1)- 225001(4).
  3. S. P. Hau-Riege, R. A. London, A. Graf, S. L. Baker, R. Soufli, R. Sobierajski, T. Burian, J. Chalupský, L. Juha, J. Gaudin, J. Krzywinski, S. Moeller, M. Messerschmidt, J. Bozek, C. Bostedt
    Optics Express 23 (2010) 23933-23938.
  4. J. Chalupský, J. Krzywinski, L. Juha, V. Hájková, J. Cihelka, T. Burian, L. Vyšín, J. Gaudin, A. Gleeson, M. Jurek, A.R. Khorsand, D. Klinger, H. Wabnitz, R. Sobierajski, M. Störmer, K. Tiedtke, S. Toleikis
    Optics Express 18 (2010) 27836-27845.