Ing. Matěj Hývl, Ph.D.

Matěj Hývl

Vedoucí laboratoře

Kategorie

Postdoktorand

Sekce (číslo)

Sekce fyziky pevných látek (3)

Oddělení (číslo)

Oddělení tenkých vrstev a nanostruktur (26)

Laboratoř / vědecká skupina

Laboratoř AFM (2603)

Laboratoř skenovací elektronové mikroskopie a optické mikroskopie (2602)

Tenké vrstvy (2611)

Telefon

E-mail

hyvl [at] fzu.cz

Lokalita

Cukrovarnická

Místnost

C 211/5

Scalpel AFM – vývoj měřící techniky rozšiřující C-AFM

3D tomografic reconstruction of thin microcrystalline silicon film. Red objects are microcrystalline grains with higher conductivity, blue colour visualize the amorphous part of the film.

© 1998 – 2026 Copyright © Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.