V laboratoři oddělení 26 se zabývám především pokročilými metodami mikroskopie atomárních sil (AFM) se zaměřením na fotovoltaické materiály. Hlavním tématem mého výzkumu je teorie i aplikace vodivostního AFM a jeho variant, C-AFM tomografie, scalpel C-AFM, SSRM.
Pomocí této metody umožňující mapovat elektrickou vodivost materiálů na škále nanometrů jsem již studoval řadu vzorků od hranic zrn polykrystalického křemíku přes křemíkové nanodráty až po mnohavrstevnaté struktury selektivních kontaktů užívaných v řadě rekordních slunečních článků.
