1. Nanomaterials 11(2) (2021) 1-9.
  2. B. Csanaková, O. Novák, M. Smrž, J. Huynh, H. Jelínková, A. Lucianetti, T. Mocek
    Applied Optics 60 (2021) 281-290.
  3. J. Huynh, M. Smrž, T.Miura, O. Slezák, D. Vojna, M.Čech, A.Endo, T. Mocek
    Optical Materials Express 8 (2018) 615-621.
  4. Applied Sciences 1016 (2017) 1-12.
  5. R. Dudžák, T. Pisarczyk, M. Pfeifer, J. Huynh, T. Chodukowski, Z. Kalinowska, E. Krouský, J. Skála, J. Hřebíček, T. Medřík, J. Golasowski, L. Juha, J. Ullschmied
    Review of Scientific Instruments 88 (2017) 102711-1-102711-11.
  6. O. Novák, Taisuke Miura, M. Smrž, M. Chyla, Siva Sankar Nagisetty, J. Mužík, Jens Linnemann, H. Turčičová, V. Jambunathan, O. Slezák, M. Sawicka-Chyla, J. Pilař, Stefano Bonora, M. Divoký, Jakub Měsíček, A. Pranovich, P. Sikocinski, J. Huynh, Patricie Severová, P. Navrátil, D. Vojna, Lucie Horáčková, Klaus Mann, A. Lucianetti, A. Endo, Danijela Rostohar, T. Mocek
    Applied Sciences 5 (2015) 637-665.