Nemáte povoleny cookies, které jsou nutné pro přehrání tohoto obsahu, který je hostován třetí stranou. Zobrazením externího obsahu přijímáte smluvní podmínky provozovatele služby YouTube.

Youtube_icon
Upravit nastavení cookies
Video si můžete přehrát na youtube.com
Přeskočit do hlavního obsahu
Home Home
FZU
Kontakty
  • Facebook
  • LinkedIn
  • Bluesky
  • Instagram
  • Youtube

Menu uživatelského účtu

  • Přihlásit se
  • English

Hlavní navigace

  • Výzkum
    • Výzkumné sekce a oddělení
    • Organizační schéma
    • Výzkumná témata
    • Významné výsledky
    • Publikace
    • Projekty
    • Společná pracoviště
    • Partnerské instituce
    • Aktuality z výzkumu
  • Lidé
  • Služby
    • Podpora vědců
    • Pro firmy
    • Oblasti expertízy
    • Patenty a licence
    • Open Science
    • Vybavení a technologie
    • Možnosti spolupráce
    • Reference
  • Novinky
  • Akce
  • Veřejnost
    • Akce pro veřejnost
    • Akce pro školy
    • Akce pro studenty
    • Novinky z popularizace
    • Výukové materiály
    • Online přednášky
    • Časopisy a weby
    • Virtuální prohlídky
  • Kariéra
    • Volná místa
    • Pro studující
    • Proč FZU?
    • Rozvoj kariéry
    • Welcome Office
    • Kontaktujte nás
    • HR Award
    • Projekt Návraty
    • Alumni klub FZU
  • O FZU
    • Kontakt
    • Organizační struktura
    • Vedení FZU
    • Rada FZU
    • Dozorčí rada FZU
    • Mezinárodní poradní sbor
    • Činnost FZU
    • Historie FZU
    • Úřední deska
    • Pro média
  • English

Menu uživatelského účtu

  • Přihlásit se

Drobečková navigace

  1. Home
  2. Lidé
  3. Ing. Jana Houdková
  4. Výsledky

Ing. Jana Houdková

Kategorie
Odborný pracovník výzkumu a vývoje
Sekce (číslo)
Sekce fyziky pevných látek (3)
Oddělení (číslo)
Oddělení optických materiálů (27)
Laboratoř / vědecká skupina
Skupina fotoelektronové spektroskopie (2711)
Telefon
220 318 526
E-mail
houdkova [at] fzu.cz
Lokalita
Cukrovarnická
Místnost
F 114
F 93
  • Činnost
  • Výsledky (vaše aktuální poloha)
  • Publikace

Povrchové chemické a elektronické vlastnosti funkcionalizovaných nanočástic Fe3O4 ovlivňující jejich cytotoxicitu

Image
Fig2.jpg

Hloubkové profilování krystalů AlN a AlxGa1-xN metodou XPS s využitím excitace čar Al Kα a Ag Lα a Ar iontového zdroje

Image
Fig3.png

Kombinace pokročilých přístupů fotoelektronové spektroskopie k analýze hluboko uložených rozhraní GaP(As)/Si(1 0 0): Mezifázové chemické stavy a úplné pásové energetické diagramy

Image
Valence band

Rozložení sp2 a sp3 koordinace atomů uhlíku na povrchu a pod povrchem u diamantu podobných uhlíkových vrstev modifikovaných při růstu ionty argonu

Image
12-2018.jpg

Aby vám nic neuteklo

Přihlaste se k odběru nejzajímavějších novinek z fyzikálního světa.

Informace o zpracování osobních údajů

Patička - Typ uživatele

  • Pro studenty
  • Pro firmy
  • FZU Alumni
  • Akce pro veřejnost

Patička

  • Ochrana osobních údajů
  • Zásady používání cookies

Externí odkazy patička

  • Akademie věd České republiky
  • Facebook
  • LinkedIn
  • Bluesky
  • Instagram
  • Youtube

Fyzikální ústav AV ČR
Na Slovance 1999/2, 182 00 Praha 8 více >

© 1998 – 2026 Copyright © Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.