1. Nanotechnology 31 (2020) 225601(1)-225601(11).
  2. Applied Physics Letters 114 (2019) 132103(1)-132103(5).
  3. phys. status solidi a  (2019) 1900241(1) - 1900241(6)
  4. JJAP Conference Proceedings 5 (2017) 011303(1)-011303(5).
  5. physica status solidi (a) 1-5 (2016) (1)-(5).
  6. Z. Remeš, T. Novák, J. Stuchlík, T. h. Stuchlíková, V. Dřínek, R. Fajgar, K. Zhuravlev
    Acta Polytechnica, Czech Technical University in Prague 54 (2014) 426-429.
  7. Canadian Journal of Physics 7/8 (2014) 819-821.
  8. Physica Status Solidi-Rapid Research Letters 4 (2010) 37-39.
  9. Z. Remeš, A. Kromka, M. Vaněček, O. Babčenko, T.-H. Stuchlíková, J. Červenka, K. Hruška, T. Q. Trung
    physica status solidi (a) 207 (2010) 1722-1725.
  10. Nanotechnology 21 (2010) 415604(1)-415604(7).
  11. Solar Energy Materials and Solar Cells 93 (2009) 1444-1447.
  12. Thin Solid Films 517 (2009) 6829-6832.
  13. Journal of Non-Crystalline Solids 354 (2008) 2227-2230.
  14. Journal of Non-Crystalline Solids 354 (2008) 2451-2454.
  15. Thin Solid Films 516 (2008) 4966-4969.
  16. Thin Solid Films 501 (2006) 107-112.
  17. Journal of Non-Crystalline Solids 352 (2006) 1097-1100.
  18. Journal of Non-Crystalline Solids 352 (2006) 901-905.
  19. J. Kočka, A. Fejfar, T. Mates, P. Fojtík, K. Dohnalová, K. Luterová, J. Stuchlík, T. h. Stuchlíková, I. Pelant, B. Rezek, A. Stemmer, M. Ito
    physica status solidi (c) 1 (2004) 1097-1114.
  20. J. Kočka, T. Mates, P. Fojtík, M. Ledinský, K. Luterová, T. h. Stuchlíková, J. Stuchlík, I. Pelant, A. Fejfar, M. Ito, K. Ro, H. Uyama
    Journal of Non-Crystalline Solids 338-340 (2004) 287-290.
  21. A. Fejfar, T. Mates, P. Fojtík, M. Ledinský, K. Luterová, T. h. Stuchlíková, I. Pelant, J. Kočka, V. Baumruk, A. Macková, M. Ito, K. Ro, H. Uyama
    Japanese Journal of Applied Physics 242 (2003) L987- L989.
  22. Solar Energy Materials and Solar Cells 78 (2003) 493-512.
  23. M. Ito, S. Yoneyama, Y. Ito, H. Uyama, T. Mates, M. Ledinský, K. Luterová, P. Fojtík, T. h. Stuchlíková, A. Fejfar, J. Kočka
    Thin Solid Films 442 (2003) 163-166.
  24. Model of transport in microcrystalline silicon.
    J. Non-Cryst. Solids 299-302 (2002) 355 - 359
  25. V. Švrček, A. Fejfar, P. Fojtík, T. Mates, A. Poruba, T. h. Stuchlíková, I. Pelant, J. Kočka, Y. Nasuno, M. Kondo, A. Matsuda
    Importance of the transport isotropy in uc-Si:H thin films for solar cells deposited at low substrate temperatures.
    J. Non-Cryst. Solids 299-302 (2002) 395 - 399
  26. J. Kočka, A. Fejfar, P. Fojtík, K. Luterová, I. Pelant, B. Rezek, T. h. Stuchlíková, J. Stuchlík, V. Švrček
    Charge transport in microcrystalline Si- the specific features.
    Sol. Energ. Mat. Sol. C. 66 (2001) 61 - 71
  27. V. Švrček, I. Pelant, J. Kočka, P. Fojtík, B. Rezek, T. h. Stuchlíková, A. Fejfar, J. Stuchlík, A. Poruba, J. Toušek
    Transport Anisotropy in Microcrystalline Silicon Studied by Measurement of Ambipolar Diffusion Length.
    J. Appl. Phys. 89 (2001) 1800 - 1805
  28. Microcrystalline Silicon - Relation between Transport and Microstructure.
    Solid State Phenom. 80-81 (2001) 213 - 224
  29. J. Kočka, J. Stuchlík, T. h. Stuchlíková, V. Svrček, P. Fojtík, T. Mates, K. Luterová, A. Fejfar
    Amorphous/microcrystalline silicon superlattices - the chance to control isotropy and other transport properties.
    Appl. Phys. Lett. 79 (2001) 2540 - 2542
  30. G. Juška, K. Genevičius, M. Viliunas, K. Arlauskas, T. h. Stuchlíková, A. Fejfar, J. Kočka
    New method of drift mobility evaluation in uc-Si:H, basic idea and comparison with time-of-flight.
    J. Non-Cryst. Solids 266-269 (2000) 331 - 335
  31. K. Luterová, P. Fojtík, A. Poruba, J. Dian, J. Valenta, T. h. Stuchlíková, J. Štěpánek, J. Kočka, I. Pelant
    Light emitting wide band gap a-Si:H deposited by microwave electron cyclotron resonance plasma-enhanced chemical vapour deposition.
    J. Non-Cryst. Solids 266-269 (2000) 583 - 587
  32. K. Nakahata, T. Kamiya, C. M. Fortmann, I. Schimizu, T. h. Stuchlíková, A. Fejfar, J. Kočka
    Anisotropic carrier transport in preferentially oriented polycrystalline silicon films fabricated by very-high-frequency plasma enhanced chemical vapor deposition using fluorinated source gas.
    J. Non-Cryst. Solids 266-269 (2000) 341 - 346