1. Journal of Applied Crystallography 45 (2012) 393-397.
  2. Real-structure anisotropy in GaMnAs layers
    Acta Crystallographica Section A 67 (2011) C442-C442.
  3. M. Kopecký, J. Kub, F. Máca, J. Mašek, O. Pacherová, A. W. Rushforth, B. L. Gallagher, R. P. Campion, V. Novák, T. Jungwirth
    Physical Review B 83 (2011) 235324(1)-235324(7).
  4. M. Kopecký, E. Busetto, A. Lausi, Z. Šourek, J. Kub, M. Cukr, V. Novák, K. Olejník, J. P. Wright
    Journal of Applied Crystallography 41 (2008) 544-547.
  5. Z. Šourek, M. Kopecký, J. Kub, E. Busetto, A. Lausi, M. Cukr, V. Novák, K. Olejník
    Location of Mn sites in GaMnAs thin films studied by means of X-ray diffuse scattering
    Acta Crystallographica Section A 64 (2008) C555-C555.
  6. M. Kopecký, J. Fábry, J. Kub, A. Lausi, E. Busetto
    Physical Review Letters 100 (2008) 195504(1)-195504(4).
  7. Journal of Applied Crystallography 39 (2006) 127-127.