1. S. M. Vinko, U. Zastrau, S. Mazevet, J. Andreasson, S. Bajt, T. Burian, J. Chalupský, H. N. Chapman, J. Cihelka, D. Doria, T. Döppner, S. Düsterer, T. Dzelzainis, R. R. Fäustlin, C. Fortmann, E. Förster, E. Galtier, S. H. Glenzer, S. Göde G. Gregori1, J. Hajdu, V. Hájková, P. A. Heimann, R. Irsig, L. Juha, M. Jurek, J. Krzywinski, T. Laarmann, H. J. Lee, R. W. Lee, B. Li, K.-H. Meiwes-Broer, J. P. Mithen, B. Nagler, A. J. Nelson, A. Przystawik, R. Redmer, D. Riley, F. Rosmej, R. Sobierajski, F. Tavella, R. Thiele, J. Tiggesbäumker, S. Toleikis, T. Tschentscher, L. Vyšín, T. J. Whitcher, S. White, J. S. Wark
    Electronic Structure of an XUV Photogenerated Solid-Density Aluminum Plasma
    Physical Review Letters 104 (2010) 225001(1)- 225001(4).
  2. T. Mocek, K.Jakubczak, M. Kozlová, J.Polan, P. Homer, J.Hrebicek, M. Sawicka-Chyla, I.J.Kim, S.B.Park, C.M.Kim, G.H.Lee, T.K.Kim, C.H.Nam, J. Chalupský, V. Hájková, L. Juha, J.Sobota, T.Fort, B. Rus
    Ablative microstructuring with plasma-based XUV lasers and efficient processing of materials by dual action of XUV/NIR–VIS ultrashort pulses
    Radiation Effects and Defects in Solids 165 (2010) 551(1)-558(8).
  3. T.W.J. Dzelzainis, J. Chalupský, M. Fajardo, R. Fäustlin, P.A. Heimann, V. Hájková, L. Juha, M. Jurek, F.Y. Khattak, M. Kozlová, J. Krzywinski, R.W. Leee, B. Nagler, A.J. Nelson, F.B. Rosmej, R. Soberierski, S. Toleikis, T. Tschentscher, S.M. Vinko, J.S. Wark, T. Whitcher, D. Rileya
    Plasma emission spectroscopy of solids irradiated by intense XUV pulses from a free electron laser
    High Energy Density Physics 6 (2010) 109-112.
  4. F.B. Rosmej, E. Galtier, D. Riley, T. Dzelzainis, P. Heinmann, F.Y. Khattak, R.W. Lee, B. Nagler, A. Nelson, T. Tschentscher, S.M. Vinko, T. Whitcher, S. Toleikis, R. Fäustlin, R. Soberierski, L. Juha, M. Fajardo, J.S. Wark, J. Chalupský, V. Hájková, J. Krzywinski, M. Jurek, M. Kozlová
    XUV Emission from Autoionizing Hole States Induced by Intense XUV-FEL at Intensities up to 1017 W/cm2
    Journal of Physics: Conference Series 244 (2010) 042028(1)-042028(4).
  5. J. Chalupský, J. Krzywinski, L. Juha, V. Hájková, J. Cihelka, T. Burian, L. Vyšín, J. Gaudin, A. Gleeson, M. Jurek, A.R. Khorsand, D. Klinger, H. Wabnitz, R. Sobierajski, M. Störmer, K. Tiedtke, S. Toleikis
    Spot size characterization of focused non-Gaussian X-ray laser beams
    Optics Express 18 (2010) 27836-27845.
  6. T. Mocek, J. Polan, P. Homer, K. Jakubczak, B. Rus, I.J. Kim, C.M. Kim, G.H. Lee, C.H. Nam, V. Hájková, J. Chalupský, L. Juha
    Surface modification of organic polymer by dual action of extreme ultraviolet/visible-near infrared ultrashort pulses
    Journal of Applied Physics 105 (2009) 026105(1)-026105(3).
  7. J. Chalupský, L. Juha, V. Hájková, J. Cihelka, L. Vyšín, J. Gautier, J. Hajdu, S.P. Hau-Riege, M. Jurek, J. Krzywinski, R.A. London, E. Papalazarou, J.B. Pelka, G. Rey, S. Sebban, R. Sobierajski, N. Stojanovic, K. Tiedtke, S. Toleikis, T. Tschentscher, C. Valentin, H. Wabnitz, P. Zeitoun
    Non-thermal desorption/ablation of molecular solids induced by ultra-short soft x-ray pulses
    Optics Express 17 (2009) 208-217.
  8. L. Juha, V. Hájková, J. Chalupský, V. Vorlíček, A. Ritucci, A. Reale, P. Zuppella, M. Stormer
    Radiation damage to amorphous carbon thin films irradiated by multiple 46.9 nm laser shots below the single-shot damage threshold
    Journal of Applied Physics 105 (2009) 093117(1)-093117(6).
  9. T. Mocek, B. Rus, M. Kozlová, J. Polan, P. Homer, K. Jakubczak, M. Stupka, D. Snopek, J. Nejdl, M.H. Edwards, D.S. Whittaker, G.J. Tallents, P. Mistry, G.J. Pert, N. Booth, Z. Zhai, M. Fajardo, P. Zeitoun, J. Chalupský, V. Hájková, L. Juha
    Plasma-based X-ray laser at 21 nm for multidisciplinary applications
    European Physical Journal D 54 (2009) 439-444.
  10. J. Chalupský, V. Hájková, V. Altapova, T. Burian, A. J. Gleeson, L. Juha, M. Jurek, H. Sinn, M. Störmer, R. Sobierajski, K. Tiedtke, S. Toleikis, Th. Tschentscher, L. Vyšín, H. Wabnitz, J. Gaudin
    Damage of amorphous carbon induced by soft x-ray femtosecond pulses above and below the critical angle
    Applied Physics Letters 95 (2009) 031111(1)-031111(3).
  11. B. Nagler, U. Zastrau, R.R. Fäustlin, S.M. Vinko, T. Whitcher, A.J. Nelson, R. Sobierajski, J. Krzywinski, J. Chalupský, E. Abreu, S. Bajt, T. Bornath, T. Burian, H. Chapman, J. Cihelka, T. Döppner, S. Düsterer, T. Dzelzainis, M. Fajardo, E. Förster, C. Fortmann, E. Galtier, S.H. Glenzer, S. Göde, G. Gregori, V. Hájková, P. Heimann, L. Juha, M. Jurek, F.Y. Khattak, A.R. Khorsand, D. Klinger, M. Kozlová, T. Laarmann, H.J. Lee, R.W. Lee, K.H. Meiwes-Broer, P. Mercere, W.J. Murphy, A. Przystawik, R. Redmer, H. Reinholz, D. Riley, G. Röpke, F. Rosmej, K. Saksl, R. Schott, R. Thiele, J. Tiggesbäumker, S. Toleikis, T. Tschentscher, I. Uschmann, H.J. Vollmer, J.S.Wark
    Turning solid aluminium transparent by intense soft X-ray photoionization
    Nature Physics 5 (2009) 693-696.
  12. S.P. Hau-Riege, R.A. London, R.M. Bionta, D. Ryutov, R. Soufli, S. Bajt, M.A. McKernan, S.L. Baker, J. Krzywinski, R. Sobierajski, R. Nietubyc, D. Klinger, J.B. Pelka, M. Jurek, L. Juha, J. Chalupský, J. Cihelka, V. Hájková, A. Velyhan, J. Krása, K. Tiedtke, S. Toleikis, H. Wabnitz, M. Bergh, C. Caleman, N. Timneanu
    Wavelength dependence of the damage threshold of inorganic materials under extreme-ultraviolet free-electron-laser irradiation
    Applied Physics Letters 95 (2009) 111104(1)-111104(3).
  13. A.J. Nelson, S. Toleikis, H. Chapman, S. Bajt, J. Krzywinski, J. Chalupský, L. Juha, J. Cihelka, V. Hájková, L. Vyšín, T. Burian, M. Kozlová, R.R. Fäustlin, B. Nagler, S.M. Vinko, T. Whitcher, T. Dzelzainis, O. Renner, K. Saksl, A. R. Khorsand, P. A. Heimann, R. Sobierajski, D. Klinger, M. Jurek, J. Pelka, B. Iwan, J. Andreasson, N. Timneanu, M. Fajardo, J.S. Wark, D. Riley, T. Tschentscher, J. Hajdu, R. W. Lee
    Soft x-ray free electron laser microfocus for exploring matter under extreme conditions
    Optics Express 17 (2009) 18271-18278.
  14. J.B. Pelka, R. Sobierajski, D. Klinger, W. Paszkowicz, J. Krzywinski, M. Jurek, D. Zymierska, A. Wawro, A. Petroutchik, L. Juha, V. Hájková, J. Cihelka, J. Chalupský, T. Burian, L. Vyšín, S. Toleikis, K. Sokolowski-Tinten, N. Stojanovic, U. Zastrau, R. London, S. Hau-Riege, C. Riekel, R. Davies, M. Burghammer, E. Dynowska, W. Szuszkiewicz, W. Caliebe, R. Nietubyc
    Damage in solids irradiated by a single shot of XUV free-electron laser: Irreversible changes investigated using X-ray microdiffraction, atomic force microscopy and Nomarski optical microscopy
    Radiation Physics and Chemistry 78 (2009) S46-S52.
  15. T. Mocek, B. Rus, M. Kozlová, J. Polan, P. Homer, L. Juha, V. Hájková, J. Chalupský
    Single-shot soft x-ray laser-induced ablative microstructuring of organic polymer with demagnifying projection
    Optics Letters 33 (2008) 1087-1089.
  16. J. Chalupský, T. Burian, M. Grisham, V. Hájková, S. Heinbuch, K. Jakubczak, L. Juha, T. Mocek, P. Pira, J. Polan, J.J. Rocca, B. Rus, J. Sobota, L. Vyšín
    Focused beam of 10-Hz table-top capillary-discharge laser at 49.9 nm
    Československý časopis pro fyziku 58 (2008) 234-237.
  17. M. Davídková, L. Juha, M. Bittner, S. Koptyaev, V. Hájková, J. Krása, M. Pfeifer, V. Štísová, A. Bartnik, H. Fiedorowicz, J. Mikolajczyk, L. Ryc, L. Pína, M. Horváth, D. Babánková, J. Cihelka, S. Civiš
    A High-Power Laser-Driven Source of Sub-nanosecond Soft X-Ray Pulses for Single-Shot Radiobiology Experiments
    Radiation Research 168 (2007) 382-387.
  18. S.P. Hau-Riege, R.A. London, R.M. Bionta, M.A. McKernan, S.L. Baker, J. Krzywinski, R. Sobierajski, R. Nietubyc, J.B. Pelka, M. Jurek, L. Juha, J. Chalupský, J. Cihelka, V. Hájková, A. Velyhan, J. Krása, J. Kuba, K. Tiedtke, S. Toleikis, T. Tschentscher, H. Wabnitz, M. Bergh, C. Caleman, K. Sokolowski-Tinten, N. Stojanovic, U. Zastrau
    Damage threshold of inorganic solids under free-electron-laser irradiation at 32.5 nm wavelength
    Applied Physics Letters 90 (2007) 173128(1)-173128(3).
  19. J. Chalupský, L. Juha, J. Kuba, J. Cihelka, V. Hájková, S. Koptyaev, J. Krása, A. Velyhan, M. Bergh, C. Caleman, J. Hajdu, R.M. Bionta, H. Chapman, S.P. Hau-Riege, R.A. London, M. Jurek, J. Krzywinski, R. Nietubyc, J.B. Pelka, R. Sobierajski, J. Meyer-ter-Vehn, A. Tronnier, K. Sokolowski-Tinten, N. Stojanovic, K. Tiedtke, S. Toleikis, T. Tschentscher, H. Wabnitz, U. Zastrau
    Characteristics of focused soft X-ray free-electron laser beam determined by ablation of organic molecular solids
    Optics Express 15 (2007) 6036-6042.
  20. B. Rus, T. Mocek, M. Kozlová, J. Polan, P. Homer, M. Stupka, G.J. Tallents, M.H. Edwards, P. Mistry, D.S. Whittaker, N. Booth, Z. Zhai, G.J. Pert, J. Dunn, A.J. Nelson, M.E. Foord, R. Shepherd, W. Rozmus, H.A. Baldis, M. Fajardo, D.De Lazzari, P. Zeitoun, G. Jamelot, A., Klisnick, D. Ros, K. Cassou, S. Kazamias, H. Bercego, C. Danson, S., Hawkes, L. Juha, V. Hájková, J. Chalupský, J. Feldhaus, H. Wabnitz, J., J. Nejdl, J. Kuba, M. Davídková, V. Stísová
    Development and applications of multimillijoule soft x-ray lasers
    Journal of Modern Optics 54 (2007) 2571-2583.
  21. L. Juha, V. Hájková, S. Koptyaev, A. Velyhan, J. Kuba, J. Cihelka, J. Chalupský
    První uživatelské experimenty s rentgenovým laserem na volných elektronech v HASYLAB/DESY.
    Československý časopis pro fyziku 56 (2006) 356-364.
  22. N. Stojanovic, D. von der Linde, K. Tinten, U. Zastrau, F. Perner, E. Förster, R. Sobierajski, R. Nietubyc, M. Jurek, D. Klinger, J. Pelka, J. Krzywinski, L. Juha, J. Cihelka, A. Velyhan, S. Koptyaev, V. Hájková, J. Chalupský, J. Kuba, T. Tschentscher, S. Toleikis, S. Dusterer, H. Redlin
    Ablation of solids using a femtosecond extreme ultraviolet free electron.
    Applied Physics Letters 89 (2006) 241909(1)-241909(3).