1. A.R. Khorsand, R. Sobierajski, E. Louis, S. Bruijn, E.D. van Hattum, R.W.E. van de Kruijs, M. Jurek, D. Klinger, J.B. Pelka, L. Juha, T. Burian, J. Chalupský, J. Cihelka, V. Hájková, L. Vyšín, U. Jastrow, N. Stojanovic, S. Toleikis, H. Wabnitz, K. Tiedtke, K. Sokolowski-Tinten, U. Shymanovich, J. Krzywinski, S. Hau-Riege, R. London, A. Gleeson, E.M. Gullikson, F. Bijkerk
    Single shot damage mechanism of Mo/Si multilayer optics under intense pulsed XUV-exposure
    Optics Express 18 (2010) 700-712.
  2. A. Lévy, F. Dorchies, P. Audebert, J. Chalupský, V. Hájková, L. Juha, T. Kaempfer, H. Sinn, I. Uschmann, L. Vyšín, J. Gaudin
    Focusing of millijoule picosecond K-alpha radiation from 100 TW laser-solid interaction
    Applied Physics Letters 96 (2010) 151114(1)-151114(3).
  3. S. M. Vinko, U. Zastrau, S. Mazevet, J. Andreasson, S. Bajt, T. Burian, J. Chalupský, H. N. Chapman, J. Cihelka, D. Doria, T. Döppner, S. Düsterer, T. Dzelzainis, R. R. Fäustlin, C. Fortmann, E. Förster, E. Galtier, S. H. Glenzer, S. Göde G. Gregori1, J. Hajdu, V. Hájková, P. A. Heimann, R. Irsig, L. Juha, M. Jurek, J. Krzywinski, T. Laarmann, H. J. Lee, R. W. Lee, B. Li, K.-H. Meiwes-Broer, J. P. Mithen, B. Nagler, A. J. Nelson, A. Przystawik, R. Redmer, D. Riley, F. Rosmej, R. Sobierajski, F. Tavella, R. Thiele, J. Tiggesbäumker, S. Toleikis, T. Tschentscher, L. Vyšín, T. J. Whitcher, S. White, J. S. Wark
    Electronic Structure of an XUV Photogenerated Solid-Density Aluminum Plasma
    Physical Review Letters 104 (2010) 225001(1)- 225001(4).
  4. T. Mocek, K.Jakubczak, M. Kozlová, J.Polan, P. Homer, J.Hrebicek, M. Sawicka-Chyla, I.J.Kim, S.B.Park, C.M.Kim, G.H.Lee, T.K.Kim, C.H.Nam, J. Chalupský, V. Hájková, L. Juha, J.Sobota, T.Fort, B. Rus
    Ablative microstructuring with plasma-based XUV lasers and efficient processing of materials by dual action of XUV/NIR–VIS ultrashort pulses
    Radiation Effects and Defects in Solids 165 (2010) 551(1)-558(8).
  5. T.W.J. Dzelzainis, J. Chalupský, M. Fajardo, R. Fäustlin, P.A. Heimann, V. Hájková, L. Juha, M. Jurek, F.Y. Khattak, M. Kozlová, J. Krzywinski, R.W. Leee, B. Nagler, A.J. Nelson, F.B. Rosmej, R. Soberierski, S. Toleikis, T. Tschentscher, S.M. Vinko, J.S. Wark, T. Whitcher, D. Rileya
    Plasma emission spectroscopy of solids irradiated by intense XUV pulses from a free electron laser
    High Energy Density Physics 6 (2010) 109-112.
  6. F.B. Rosmej, E. Galtier, D. Riley, T. Dzelzainis, P. Heinmann, F.Y. Khattak, R.W. Lee, B. Nagler, A. Nelson, T. Tschentscher, S.M. Vinko, T. Whitcher, S. Toleikis, R. Fäustlin, R. Soberierski, L. Juha, M. Fajardo, J.S. Wark, J. Chalupský, V. Hájková, J. Krzywinski, M. Jurek, M. Kozlová
    XUV Emission from Autoionizing Hole States Induced by Intense XUV-FEL at Intensities up to 1017 W/cm2
    Journal of Physics: Conference Series 244 (2010) 042028(1)-042028(4).
  7. J. Chalupský, J. Krzywinski, L. Juha, V. Hájková, J. Cihelka, T. Burian, L. Vyšín, J. Gaudin, A. Gleeson, M. Jurek, A.R. Khorsand, D. Klinger, H. Wabnitz, R. Sobierajski, M. Störmer, K. Tiedtke, S. Toleikis
    Spot size characterization of focused non-Gaussian X-ray laser beams
    Optics Express 18 (2010) 27836-27845.