Analýza chemického složení (EELS)

Text

Komerčně čistý titan byl implantovaný dusíkem, aby se vytvořil nitrid titanu TiN, který významně zlepšuje povrchové vlastnosti titanu (zejména tvrdost). Vzorky byly implantovány ionty dusíku urychlovacím napětím 90 kV a tokem ≈ 3·1017 cm-2. Úhel dopadu iontového svazku byl 90°. Implantovaný materiál byl charakterizovaný pomocí XRD, které identifikovalo hexagonální strukturu α-Ti matrice, mix Ti s N v intersticiálních pozicích a kubického δ-TiN nitridu na povrchu.

Pomocí TEM a techniky EELS byla změřena tloušťka vytvořené vrstvy TiN a navíc bylo zjištěno do jaké hloubky byly implantovány atomy dusíku intersticiálně do mřížky původně čistého Ti. EELS měření také odhalilo posun Ti-L23 hrany u vytvořeného TiN.

Analýza chemického složení (EELS)
Popis
Obrázek: Nahoře: EELS spektrum z Ti ukazující Ti-L23 hranu; EELS spektrum z TiN ukazující N-K hranu a Ti-L23 hranu; Dole: Low-Loss EELS spektra z Ti a TiN; Core-Loss EELS spektra z Ti a TiN; Energetický posun Ti-L23 hrany mezi fází Ti a TiN. 

Spolupráce: Josef Vlček (ČVUT v Praze)