Dva mladí badatelé z Fyzikálního ústavu AV ČR, Evgeniya Tereshina, Ph.D. a Mgr. Martin Ondráček, Ph.D., převzali z rukou předsedy Akademie věd ČR prof. Jiřího Drahoše v úterý 2. června 2015 v pražské Lannově vile Prémii Otto Wichterleho udělovanou za špičkové vědecké výsledky. V letošním roce bylo uděleno 21 těchto prestižních ocenění pro mladé nositele vědeckých hodností do 35 let.
Níže přinášíme stručné medailonky obou oceněných vědců, které naleznete spolu s profilu dalších oceněných na stránce AV ČR - Prémie Otto Wichterleho udělené v roce 2015.
Evgeniya Tereshina, Ph.D.
Evgeniya Tereshina, Ph.D., je v současné době mezinárodně uznávanou expertkou na fyziku pevné fáze v extrémních magnetických polích. Úspěšně se věnuje problematice magnetoresponsivních vlastností systémů s f-elektrony s aplikačním potenciálem (elektrony prvků skupin lanthanoidů nebo aktinoidů). Její výzkum představuje zcela nový přístup k návrhu nanoelektronických zařízení. Studium fundamentálních aspektů fyzikálních jevů v nanoobjektech se zaměřením na magnetickou anizotropii tenkých vrstev je atraktivní téma s využitím v technologii magnetického záznamu. Díky použití exotických materiálů na bázi uranu je možné pozorovat nové jevy a funkcionality. Cílem je získat silně hybridizované systémy řízením spinové orientace a rigidity.
Během své kariéry absolvovala Mgr. Evgeniya Tereshina, Ph.D., několik zahraničních stáží (Tohoku University – Sendai, ILL – Grenoble, Laboratoire Leon Brillouin, Saclay, International Laboratory of High Magnetic Fields and Low Temperatures, Wroclaw). Je spoluautorkou padesátky publikací v impaktovaných časopisech. Přestože je její vědecká kariéra poměrně krátká, dosáhla úctyhodného množství původních výsledků zásadního významu, o čemž svědčí i několik ocenění vědeckou komunitou, např. Award by International George Soros Science Education Program, cena za nejlepší posterovou prezentaci na prestižní mezinárodní konferenci o magnetismu JEMS 2006 a čestné uznání v soutěži L’Oreal/UNESCO 2012.
Mgr. Martin Ondráček, Ph.D.
Teoretické práce Mgr. Martina Ondráčka, Ph.D., významným způsobem přispěly k pochopení mechanismu atomárního rozlišení rastrovacích mikroskopů a k jejich dalšímu rozvoji. Mgr. Martin Ondráček, Ph.D., se také podílel na odvození vztahu mezi silou formující se chemické vazby a její vodivostí.
Ve svém výzkumu se zabývá teoretickým popisem mikroskopie atomárních sil a rastrovací tunelové mikroskopie. Obě jmenované mikroskopické metody jsou založené na skenování studovaného povrchu velmi ostrým hrotem a v ideálním případě umožňují dosáhnout rozlišení až na úrovni jednotlivých atomů. Zatímco u první z obou metod se detekuje síla, která po přiblížení k povrchu působí na hrot, ve druhém případě je sledovanou veličinou elektrický proud protékající mezi hrotem a povrchem. Souvislost skutečné struktury povrchu a měřených veličin – sil a proudu – ovšem nebývá zcela přímočará. Správné pochopení získaných informací usnadňuje možnost porovnat experimentální data s teoretickými modely interakce studovaného vzorku s mikroskopem.
Konkrétně např. práce Mgr. Martina Ondráčka, Ph.D., přispěla k zodpovězení otázek, jaké jsou možnosti rozlišení různých chemických prvků na povrchu, jak souvisí naměřená atomární síla s tunelovým proudem při souběžném použití obou mikroskopických technik, nebo jaký je vlivu tvaru a složení hrotu na výsledek experimentu. Je spoluautorem řady významných prací, které publikovaly přední vědecké časopisy, některé práce se dočkaly značného ohlasu (např. v Nature, Nature Materials, Physics Today).