Ing. Pavel Jelínek, Ph.D.(Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.)
Významnou roli při charakterizaci a modifikaci povrchů pevných látek hrají rastrovací mikroskopy. Poslední vývoj v této oblasti umožňuje kombinaci rastrovacího tunelovacího mikroskopu (STM) s mikroskopem atomárních sil (AFM). Možnost souběžné detekce atomárních sil a tunelovacího proudu umožňuje zcela nové možnosti charakterizovat s atomárních rozlišením povrchy a nanostruktury. Správná interpretace dat získaných tímto komplexním měřením vyžaduje pokročilou teoretickou analýzu.